掃描電子顯微鏡在金屬腐蝕與防護(hù)研究中的應(yīng)用實例
掃描電子顯微鏡（SEM）廣泛應(yīng)用于材料、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)、生物、考古、石油、刑偵、造紙、紡織等研究領(lǐng)域。由于操作方便，制樣簡單，景深大，成像富有立體感，SEM已成為表面分析...
日立透射電子顯微鏡H-9500型300kV透射電子顯微鏡以其優(yōu)秀的穩(wěn)定性、應(yīng)用性能及可靠性滿足近十年來的科研團(tuán)體的嚴(yán)格要求。300kV透射電子顯微鏡H-9500繼承了這些優(yōu)點，又采用了一些技術(shù)，實現(xiàn)了計算機(jī)控制和數(shù)字圖像，易于操作。可以獲得高質(zhì)量的原子分辨率圖像，是材料研究領(lǐng)域的工具。
日立透射電子顯微鏡H-9500型的性能指標(biāo)
1)分辨率
線分辨率：0.10nm
點分辨率：0.18nm
2)技術(shù)電壓
加速電壓：300 kV, 200kV, 100kV
最小電壓步長：100V
高壓應(yīng)用：3分鐘以內(nèi) (從0 kV 到300 kV)
高壓穩(wěn)定度：3 x 10-6/分鐘
3)放大倍率/相機(jī)長度
低倍模式：200x - 500x (3 步)
普通模式：1,000x - 1,500,000x (30 步)
選區(qū)模式：4,000x - 500,000x (22 步))
衍射模式：(DIFF)0.25 - 3.0m
