詳細內(nèi)容
s-SNOM技術(shù)使用金屬鍍層的原子力（AFM）探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強樣品的納米尺度區(qū)域的散射，散射信號可以在遠場被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復雜光學性質(zhì)。具體而言，這些散射光的信息包括光的振幅和相位，通過適當?shù)哪Ｐ停@些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學常數(shù)（n，k）。在某些情況下，光學相位與波長還提供了個與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息。
瑞宇科技的散射式近場光學顯微鏡建立在基于具有先地位的納米光學表征工具原子力顯微鏡AFM的基礎(chǔ)之上。s-SNOM設(shè)計具有不錯的性能，高度集成，全面自動化，使用靈活，為研究生產(chǎn)力和易用性設(shè)定了新的標準。
應(yīng)用：
由于瑞宇科技的散射式近場光學顯微鏡和光譜譜圖的可靠性和可重復性，s-SNOM業(yè)已成為納米光學域熱點研究方向的推薦科研設(shè)備，廣泛適用于各種無機物和有機物，如表面等離子體、納米天線、2D材料（石墨烯，BN），納米結(jié)構(gòu)，半導體，絕緣體，生命科學，高分子材料等，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到許多重要科研成果。
石墨烯等離子體的s-SNOM相位和振幅圖像（上—相位圖像三維視圖；左—相位和SPP駐波線橫截面；右—s-SNOM振幅圖）
光學近場顯微鏡的光譜和成像。（上—波長相關(guān)的復雜光學性質(zhì)；下左—共振（1659cm-1）的s-SNOM相位圖像；下右—非共振（1605cm-1）的s-SNOM相位圖像）
s-SNOM圖像顯示了棒狀天線上的偶子散射。（上—覆蓋在形貌圖上的s-SNOM圖像；下左—AFM圖像；下右—s-SNOM圖像）
紫外膜的s-SNOM測量揭示了蛋白質(zhì)在脂質(zhì)膜內(nèi)的分布。（上—AFM高度圖；下左—當紅外激光源調(diào)諧到酰胺I吸收帶產(chǎn)生共振時（1667cm-1）s-SNOM相位圖像；下右—非共振時（1618cm-1）s-SNOM相位圖像）
產(chǎn)品特點：
10nm空間分辨率近場成像和光譜；
利的快速成像和采譜技術(shù)，10倍于傳統(tǒng)的空間光譜成像；
利背景壓制技術(shù)和高效光學信號收集技術(shù)，確保在10nm空間分辨率下仍然保持高的信噪比；
預先校準光路，操作其簡便；
模塊化設(shè)計，可拓展性強；
產(chǎn)品參數(shù)：
光學分辨率：1.5um
XY掃描范圍：80x80um
成像波段：900～2000cm-1，2235～3600cm-1
空間分辨率：10～100nm產(chǎn)品參數(shù)：
光學分辨率：1.5um
XY掃描范圍：80x80um
成像波段：900～2000cm-1，2235～3600cm-1
空間分辨率：10～100nm
