產(chǎn)品名稱:比表面儀及孔隙度分析儀TriStar II 系列-高性能多通道全自動(dòng)
產(chǎn)品型號(hào):TriStar II 系列
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:產(chǎn)品簡(jiǎn)介TriStar II 系列比表面儀 及孔徑分析儀,孔徑測(cè)定儀是全自動(dòng)三站式比表面積和孔隙度分析儀,能夠提高質(zhì)量控制分析的檢測(cè)速度,并提供高精度、高分辨率和數(shù)據(jù)處理功能以滿足絕大多數(shù)研發(fā)的需要。技術(shù)特點(diǎn)· 同時(shí)和獨(dú)立分析三個(gè)樣品 - 三個(gè)BET表面積分析時(shí)間少于20分鐘· TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測(cè)定儀可用于微孔分析· 標(biāo)配一個(gè)專用...
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
TriStar II 系列比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測(cè)定儀是全自動(dòng)三站式比表面積和孔隙度分析儀,能夠提高質(zhì)量控制分析的檢測(cè)速度,并提供高精度、高分辨率和數(shù)據(jù)處理功能以滿足絕大多數(shù)研發(fā)的需要。
技術(shù)特點(diǎn)
· 同時(shí)和獨(dú)立分析三個(gè)樣品 - 三個(gè)BET表面積分析時(shí)間少于20分鐘
· TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測(cè)定儀可用于微孔分析
· 標(biāo)配一個(gè)專用的飽和壓力接口,可選多種規(guī)格杜瓦瓶以及樣品管
· TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測(cè)定儀可升級(jí)成高真空系統(tǒng),用于低比表面積以及微孔的測(cè)試
· 可以測(cè)定、計(jì)算或手動(dòng)輸入自由空間
· TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測(cè)定儀可以使用任何氣體,死體積測(cè)試可以不使用氦氣
· 可選滿足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的軟件。 IQ和OQ認(rèn)證服務(wù),確保該系統(tǒng)的準(zhǔn)確性、可靠性和一致性。這些服務(wù)保障了分析記錄的完整性
· TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測(cè)定儀配置了液氮液面保持裝置---液氮等溫夾,以確保整個(gè)分析過(guò)程中等溫夾套以下的溫度恒定
· 儀器可同時(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的分析,滿足測(cè)試量大的用戶,不是多個(gè)工作站的"排隊(duì)分析",每個(gè)分析站都配有獨(dú)立的傳感器,保證三個(gè)分析站分析的同時(shí)進(jìn)行
· 配備了大容量杜瓦瓶,結(jié)合的液氮等溫夾,保證至少60小時(shí)無(wú)人介入操作。無(wú)上限的連續(xù)分析
· 儀器軟件包含了目前所有的數(shù)據(jù)處理方法:
單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積,Langmuir比表面積
Temkin and Freundlich等溫線分析
多種厚度層公示計(jì)算的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積對(duì)孔徑的分布
孔體積和用戶孔徑范圍內(nèi)的總孔體積
MP法的微孔孔徑分布和t-plots、αs-plots得到的微孔總孔體積
f-Ratio plots,D-R,D-A
H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正)
DFT密度函數(shù)理論,包括NLDFT等
TriStar II Plus 型號(hào)新功能:
·的耐腐蝕的不銹鋼歧管,用于高精度的氣體管理。
·可選氪氣選項(xiàng),以用于非常低的比表面測(cè)試。
·直觀的MicroActive 軟件使用戶能夠用交互方式分析等溫線數(shù)據(jù),更快地獲得比表面與孔徑數(shù)據(jù)。
·更強(qiáng)的能包含壓汞數(shù)據(jù)的文件添加疊加刪除功能(最多25 個(gè))。
·用戶自定義報(bào)告選項(xiàng)允許直接建模。
·強(qiáng)大的Python 腳本語(yǔ)言,允許用戶開(kāi)發(fā)TriStar II Plus 軟件標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告庫(kù)擴(kuò)展程序。
·創(chuàng)新的儀器顯示屏,方便的儀器性能指標(biāo)和維護(hù)信息實(shí)時(shí)顯示功能。
·能夠在碳微孔分析中同時(shí)利用CO2 與N2 兩個(gè)等溫線通過(guò)NLDFT 理論來(lái)計(jì)算全范圍孔徑。
產(chǎn)品應(yīng)用
TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測(cè)定儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓┛蛇M(jìn)行等溫吸附和脫附分析,用于確定比表面積、微孔孔體積和孔面積、中孔體積和面積、總孔體積等。
適用于各種材料的研究與產(chǎn)品測(cè)試,包括測(cè)量沸石、碳材料、分子篩、二氧化硅、氧化鋁、土壤、黏土、有機(jī)金屬化合物骨架結(jié)構(gòu)等各種材料。