產(chǎn)品描述
工作原理:
粒度分布:動態(tài)光散射儀(Dynamic Light Scattering, DLS)
ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)
檢測范圍:
粒徑范圍:0.3nm-10.0μm
ZETA電位: +/- 500mV
Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而 來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機(jī)采用 多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。粒 徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了 高斯( Gaussian)單峰算法和擁有技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻 分散體系的分析具有優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個電極可以 使用成千上萬次。另外,采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度,亦幫用戶大大 節(jié)省檢測成本。
技術(shù)優(yōu)勢
1、PMT高靈敏度檢測器;
2、可搭配不同功率光源;
3、雙列直插式電極和樣品池,可反復(fù)使用成千上萬次;
4、鈀電極;
5、精確度高,樣品真實值;
6、復(fù)合型算法: 高斯(Gaussion)單峰算法與的Nicomp多峰算法自由切換 相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換
7、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);
8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);
9、符合USP,CP等個多藥典要求;
10、無需校準(zhǔn);
11、復(fù)合型算法:
(1)高斯(Gaussion)單峰算法與的Nicomp多峰算法自由切換
12、模塊化設(shè)計便于維護(hù)和升級;
(1)可自動稀釋模塊(選配);
(2)搭配多角度檢測器(選配);
(3)自動進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);