冷熱沖擊測(cè)試的設(shè)備適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。有瞬間從高溫沖到低溫或者從低溫瞬間沖擊到高溫的試驗(yàn)功能。適用于所有工業(yè)材料、工業(yè)產(chǎn)品的成品或者半成品。
的技術(shù)參數(shù)：
冷熱沖擊測(cè)試的設(shè)備的性能參數(shù)參考如下：
一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費(fèi)配高溫至150度）。
二、溫度偏差：±2℃。
三、溫度波動(dòng)度：±0.5℃。
四、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。
五、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。
七、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間：30min (+25℃～+200℃)。
八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間：65min (+25℃～-75℃)。
九、低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)工作時(shí)的噪音：（dB）≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音）
十、型號(hào) 內(nèi)箱尺寸（mm) 外箱尺寸（mm） 功率（kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0
本設(shè)備滿足 | GBT 2423.1-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A低溫 |
GBT 2423.2-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 | |
GBT 2423.4-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db： 濕熱循環(huán). | |
GBT 2423-3-2006 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 恒定濕熱 | |
GBT 10592-1989 | 高低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件 | |
SJT 31391—1994 | 恒溫試驗(yàn)箱完好要求和檢查評(píng)定方法 |
