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MicroXAM-800臺(tái)階儀(光學(xué)輪廓儀)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2022/12/27 17:08:19
  • 訪問次數(shù)497
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北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司,專業(yè)負(fù)責(zé)KLA(科磊半導(dǎo)體)微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)(納米壓痕儀、SEM原位壓痕儀、拉伸儀等)、探針式臺(tái)階儀、形貌儀、三維光學(xué)輪廓儀等設(shè)備技術(shù)的銷售和技術(shù)應(yīng)用服務(wù)工作。KLA公司是工藝控管與良率管理解決方案的業(yè)界者,與世界各地的客戶合作開發(fā)的檢測(cè)和量測(cè)技術(shù),并且將這些技術(shù)致力于*材料、物理、微器件、半導(dǎo)體、LED 及其他相關(guān)微納研究和生產(chǎn)領(lǐng)域。憑借行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品組合和的工程師及科學(xué)家團(tuán)隊(duì),近 40 年來公司持續(xù)為客戶打造的解決方案。北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司是KLA微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、SEM/FIB原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、探針式臺(tái)階儀、三維光學(xué)輪廓儀等設(shè)備的渠道商,服務(wù)范圍遍及全國(guó)各地。微納力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)包括業(yè)內(nèi)聲譽(yù)很高應(yīng)用很廣泛的G200、iMicro、iNano型納米壓痕儀,T150型納米拉伸儀,以及常溫和高溫原位納米壓痕儀等等。KLA公司新研發(fā)的G200X型納米壓痕儀在G200型的基礎(chǔ)上又增加了一些新功能,使設(shè)備的性價(jià)比又提高了一個(gè)新臺(tái)階。輪廓儀系統(tǒng)包括的Zeta系列,P系列、D系列等產(chǎn)品。我公司擁有一支專業(yè)誠(chéng)信的技術(shù)、銷售、管理團(tuán)隊(duì),有著豐富的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),自公司創(chuàng)立以來,在科研、生產(chǎn)等多個(gè)領(lǐng)域?yàn)榭蛻籼峁┝擞懈?jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品和技術(shù)服務(wù)。我們始終秉承服務(wù)至上的宗旨,依托專業(yè)化的團(tuán)隊(duì)、全國(guó)性的營(yíng)銷網(wǎng)絡(luò)和的品牌,在不斷優(yōu)化服務(wù)質(zhì)量、擴(kuò)大市場(chǎng)輻射范圍的同時(shí),為客戶提供更全面的服務(wù)。
產(chǎn)品描述MicroXAM-800光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)
MicroXAM-800臺(tái)階儀(光學(xué)輪廓儀) 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品描述

MicroXAM-800光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。MicroXAM的白光干涉儀可以埃級(jí)分辨率對(duì)表面進(jìn)行高分辨率測(cè)量。該系統(tǒng)支持相位和垂直掃描干涉測(cè)量,兩者都是傳統(tǒng)的相干掃描干涉技術(shù)(CSI)。MicroXAM進(jìn)一步擴(kuò)展了這些技術(shù),它采用SMART Acquire為新手用戶簡(jiǎn)化了程序設(shè)置,并且采用z-stitching干涉技術(shù)可以對(duì)大臺(tái)階高度進(jìn)行高速測(cè)量。

MicroXAM測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在于測(cè)量的垂直分辨率與物鏡的數(shù)值孔徑無關(guān),因而能夠在大視野范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率測(cè)量。測(cè)量區(qū)域可以通過將多個(gè)視場(chǎng)拼接為同一個(gè)測(cè)量結(jié)果而進(jìn)一步增加。MicroXAM的用戶界面創(chuàng)新而簡(jiǎn)單,適用于從研發(fā)到生產(chǎn)的各種工作環(huán)境。


主要功能

  • 針對(duì)納米級(jí)到毫米級(jí)特征的相位和垂直掃描干涉測(cè)量

  • SMART Acquire簡(jiǎn)化了采集模式并采用已知的程序設(shè)置的測(cè)量范圍輸入

  • Z-stitching干涉技術(shù)采集模式,可用于單次掃描以及編譯多個(gè)縱向(z)距離很大的表面

  • XY-stitching可以將大于單個(gè)視野的連續(xù)樣本區(qū)域拼接成單次掃描

  • 使用腳本簡(jiǎn)化復(fù)雜測(cè)量和工作流程分析的創(chuàng)建,實(shí)現(xiàn)了測(cè)量位置、調(diào)平、過濾和參數(shù)計(jì)算的靈活性

  • 利用已知技術(shù),從其他探針和光學(xué)輪廓儀轉(zhuǎn)移算法

    image.png

主要應(yīng)用

  • 臺(tái)階高度:納米級(jí)到毫米級(jí)的3D臺(tái)階高度

  • 紋理:3D粗糙度和波紋度

  • 形式:3D翹曲和形狀

  • 邊緣滾降:3D邊緣輪廓測(cè)量

  • 缺陷復(fù)檢:3D缺陷表面形貌

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工業(yè)應(yīng)用

  • 大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

  • 半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

  • LED:發(fā)光二極管

  • 電力設(shè)備

  • MEMS:微電子機(jī)械系統(tǒng)

  • 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

  • 醫(yī)療設(shè)備

  • 精密表面

  • 汽車

  • 還有更多:請(qǐng)與我們聯(lián)系以滿足您的要求

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