XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術與厚樣技術相結合的方式,既可以對大量樣品進行無損檢測,也可以對塊狀固體,固體粉末和液體樣品等進行實驗室級別的元素分析。特別適宜于針對RoHS指令的多元素測試。
XRF9能量色散X射線熒光分析儀物理原理
當材料暴露在短波長X光檢查,或伽馬射線,其組成原子可能發(fā)生電離,如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢,足以驅逐內層軌道的電子,然而這使原子的電子結構不穩(wěn)定,在外軌道的電子會“回補”進入低軌道,以遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源,光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此,物質放射出的輻射,這是原子的能量特性。
特點:
· 采用多光束可調節(jié)系統(tǒng)
· 高分辨率探測器
· 采用XYZ三維運動樣品臺
· 大型樣品分析室
· CCD攝像及自動定位系統(tǒng)
· 自動調節(jié)雙層六通道濾光系統(tǒng)
主要技術指標
分析原理 能量色散X射線熒光分析法
分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)
Na~U(任選:φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型)
檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀 大460×380mm(高150mm)
樣品 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
樣品室氣氛 大氣
X射線管 靶材 Rh
管電壓 大50KV
管電流 大1mA
X射線照射徑 1/3/5mm
防護 <0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕)
檢測器 硅SIPIN探測器
光學圖像觀察 倍率15倍
軟件 定性分析:自動定性(自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移)
照射徑: 1/3/5mm
定量分析: 基礎參數(shù)法/標準法/1點校正
計算機 CPU PentiumIV1.8GHz以上
內存 256MB以上
硬盤 20GB以上
OS WindowXP
監(jiān)視器 17寸LCD
周圍溫度 10~35。C(性能溫度)/5~40。C(動作溫度)
周圍濕度 5~31。C時溫度范圍:大相對濕度80%以下
31~40。C時溫度范圍:相對濕度50%以下
電源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力 1.3KVA以下(含計算機、LCD、打印機)
設備重量 約65kg(不含桌子、計算機)
外形寸法 600(W)×545(D)×435(H)mm