T802納米激光粒度儀|納米粒度分析儀
發(fā)布時(shí)間:2020/06/21 點(diǎn)擊量:
T802光相關(guān)納米粒度儀
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
T802光子相關(guān)納米粒度儀是采用動(dòng)態(tài)光散射原理的納米粒度儀。其測(cè)量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)基礎(chǔ)之上,顆粒越小,運(yùn)動(dòng)速度越快,顆粒越大,運(yùn)動(dòng)速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司研制的高速數(shù)字相關(guān)器作為核心器件,通過測(cè)試某一角度的散射光的變化并求出自相關(guān)函數(shù)(即擴(kuò)散系數(shù)),根據(jù)Stokes-Einstein方程計(jì)算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復(fù)及準(zhǔn)確等特點(diǎn),同時(shí)還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的優(yōu)點(diǎn),是納米顆粒粒度測(cè)試的選擇產(chǎn)品。
二、主要性能特點(diǎn)
*的測(cè)試原理 該儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理,其測(cè)試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點(diǎn),從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性;
高靈敏度與信噪比 核心部件采用公司CR256數(shù)字相關(guān)器,它實(shí)時(shí)完成動(dòng)態(tài)散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算,從而有效地反映不同大小顆粒的動(dòng)態(tài)光 散射信息,為測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ);
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng),使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小,而且具有很強(qiáng)的抗力,從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性;
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導(dǎo)體溫控技術(shù),溫控精度高達(dá)±0.2℃,使樣品在整個(gè)測(cè)試過程中始終處于恒溫狀態(tài),避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)速度變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性。
三、技術(shù)參數(shù)
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
T802光子相關(guān)納米粒度儀是采用動(dòng)態(tài)光散射原理的納米粒度儀。其測(cè)量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)基礎(chǔ)之上,顆粒越小,運(yùn)動(dòng)速度越快,顆粒越大,運(yùn)動(dòng)速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司研制的高速數(shù)字相關(guān)器作為核心器件,通過測(cè)試某一角度的散射光的變化并求出自相關(guān)函數(shù)(即擴(kuò)散系數(shù)),根據(jù)Stokes-Einstein方程計(jì)算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復(fù)及準(zhǔn)確等特點(diǎn),同時(shí)還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的優(yōu)點(diǎn),是納米顆粒粒度測(cè)試的選擇產(chǎn)品。
二、主要性能特點(diǎn)
*的測(cè)試原理 該儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理,其測(cè)試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點(diǎn),從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性;
高靈敏度與信噪比 核心部件采用公司CR256數(shù)字相關(guān)器,它實(shí)時(shí)完成動(dòng)態(tài)散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算,從而有效地反映不同大小顆粒的動(dòng)態(tài)光 散射信息,為測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ);
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng),使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小,而且具有很強(qiáng)的抗力,從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性;
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導(dǎo)體溫控技術(shù),溫控精度高達(dá)±0.2℃,使樣品在整個(gè)測(cè)試過程中始終處于恒溫狀態(tài),避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)速度變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性。
三、技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號(hào) | T802 |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008 |
測(cè)試范圍 | 1-10000nm(與樣品有關(guān)) |
濃度范圍 | 0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關(guān)) |
準(zhǔn)確度誤差 | <1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值) |
重復(fù)性誤差 | <1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值) |
激光光源 | 光纖半導(dǎo)體激光器,λ= 532nm, |
探測(cè)器 | 光電倍增管(PMT) |
散射角 | 90o |
樣品池體積 | 4mL |
溫控范圍 | 5-40 ℃(精確到0.1℃) |
測(cè)試速度 | <5 Min |
體積 | 480mm*270mm*170mm |
重量 | 12Kg |
數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù) | 自相關(guān)通道:256 基線通道:4 最小分辨時(shí)間:6ns 延遲時(shí)間:100ns-10ms(可調(diào)) 運(yùn)算速度:162M/S |