JED-2300T 能譜儀
· JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中,自動采集電鏡主機(jī)的倍率、加速電壓等參數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
產(chǎn)品特點:
· AnalysisStation
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中,自動采集電鏡主機(jī)的倍率、加速電壓等參數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
· 硅漂移檢測器(以下簡稱SDD)的檢測面積有30mm2、60mm2和100mm2三種。檢測面積越大,檢測靈敏度越高。JEM-ARM200F(HRP)配合使用DRY SD100GV檢測器(檢測面積為100mm2),可同時實現(xiàn)大受光面積和高分辨率, 可以清楚地識別B、C、N、O等輕元素。
Dry SD100GV
· 快速元素面分析
· DRYSD100GV檢測器的靈敏度,測試Au催化劑顆粒只需一分鐘。
· 上圖: 樣品 負(fù)載在Ti氧化物上的Au催化劑顆粒
裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
測試時間: 大約1分鐘
束流電流: 1nA
像素數(shù): 256x256像素
· 實現(xiàn)原子分辨率的面分析
· Sr和Ti的原子列被清楚地分離開來。
· 上圖: 樣品 SrTiO3<100>
裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
測試時間: 大約10分鐘
束流電流: 1nA
像素數(shù): 128x128像素
· play Back(回放)功能
· 用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖,不僅保存了每一幀中各個像素點的譜圖,還對每一幀中電子束形成的圖像進(jìn)行了存儲。利用play back功能,可以進(jìn)行多角度的分析如觀測譜圖等隨時間的變化等。測試后數(shù)據(jù)能夠回放,可以觀察到樣品按時間順序發(fā)生的變化,這是至今為止無法實現(xiàn)的。此外,利用play back功能還可以截取任意的畫面。
· 上圖: 裝置 JEM-2800+DRYSD100GV檢測器
樣品: 巖鹽
像素數(shù): 128x128
提取的幀號: 398幀s