ELSZ2000粒度儀-激光粒度儀-激光粒度分析儀 產(chǎn)品描述：
Otsuka ELSZ2000粒度儀-激光粒度儀-激光粒度分析儀 是一套功能強(qiáng)大且多用途的界達(dá)電位&粒徑 測(cè)量系統(tǒng)，能高精度地測(cè)量稀溶液到濃溶液的zeta電位和粒徑，此外還新增加了分子量分析功能(粒徑:0.6nm-10um/濃度范圍:0.00001%-40%)。電滲透測(cè)量能夠使用微體(130ul)一次性電池對(duì)zeta電位進(jìn)行高精度分析。此外，新的自動(dòng)溫度梯度功能，擴(kuò)大了0℃和90℃之間的范圍，使熔點(diǎn)和相變點(diǎn)分析成為可能。
工作原理：
粒徑的原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）。分散在溶液中的微粒通常會(huì)發(fā)生布朗運(yùn)動(dòng)。較大的粒子運(yùn)動(dòng)較慢，較小的粒子運(yùn)動(dòng)較快。當(dāng)激光在布朗運(yùn)動(dòng)的影響下照亮粒子時(shí)，來(lái)自粒子的散射光會(huì)顯示出與單個(gè)粒子相對(duì)應(yīng)的波動(dòng)。根據(jù)光子檢測(cè)方法觀察到波動(dòng)，從而計(jì)算出粒徑和粒徑分布。
Zeta電位測(cè)量原理：激光多普勒法。在大多數(shù)情況下，膠體顆粒具有正電荷或負(fù)電荷。當(dāng)將電場(chǎng)施加到顆粒分散體時(shí)，顆粒沿相反電荷的方向遷移。隨著粒子在遷移過(guò)程中受到照射，散射光會(huì)根據(jù)電泳遷移率引起多普勒頻移，該方法稱為激光多普勒法。
電滲透表示在zeta電勢(shì)測(cè)量后細(xì)胞內(nèi)部發(fā)生的液體流動(dòng)。如果細(xì)胞壁帶電，則介質(zhì)中的抗衡離子會(huì)遷移到細(xì)胞壁。這是抗衡離子遷移到細(xì)胞壁中的一個(gè)電極并遷移到細(xì)胞中心附近的另一電極的現(xiàn)象。通過(guò)測(cè)量表觀電泳遷移率并分析電滲，有可能獲得考慮到染色細(xì)胞的正確固定層并計(jì)算正確的界達(dá)電位。
使用高濃度電池的Zeta電位測(cè)量原理在于，由于多重散射或吸收效應(yīng)，過(guò)去很難測(cè)量非常濃稠或著色的樣品。目前，ELSZ系列的標(biāo)準(zhǔn)樣品池能夠測(cè)量較寬的樣品濃度范圍。此外，可以通過(guò)FST方法測(cè)量高度濃縮樣品的Zeta電位。
產(chǎn)品亮點(diǎn)：
- 通過(guò)型的高靈敏度APD提高感光度，大大縮短了測(cè)量時(shí)間
- 搭載自動(dòng)溫度梯度測(cè)量功能，可分析變性、變相溫度
- 可測(cè)量0~90℃寬闊的溫度范圍
- 增加了大范圍分子量測(cè)定及解析功能
- 可測(cè)量懸濁的高濃度樣本粒徑、界達(dá)電位
- 由實(shí)測(cè)Cell內(nèi)電滲透的圖示化分析，可提供高精度界達(dá)電位測(cè)量結(jié)果
- 對(duì)應(yīng)高鹽濃度溶液界達(dá)電位
- 對(duì)應(yīng)小尺寸樣本平板界達(dá)電位測(cè)量
應(yīng)用范圍：
- 納米生物、醫(yī)藥領(lǐng)域
- 納米材料、新機(jī)能性材料領(lǐng)域
- 食品、化妝領(lǐng)域
- 高分子、化學(xué)工業(yè)領(lǐng)域
- 精密陶瓷、顏料工業(yè)領(lǐng)域
- 半導(dǎo)體領(lǐng)域
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量參數(shù)
- Zeta電位：-200 ~ 200 mV
- 遷移率：-20 x 10^-4 ~20 x10^-4 cm^2/V/S
- 粒徑：0.6nm~10000nm
- 分子量：360~2000 x 10^4
- 溫度：0 ~ 90℃
- 濃度：粒徑（0.00001%（0.1ppm）~40%）、Zeta電位：0.001%~40%
- 電源：100V±10%，50/60Hz，250VA
- 尺寸：380W x 600D x 210H
- 重量：約22kg
升級(jí)選項(xiàng)：
- pH滴定儀測(cè)量
- dn/dc測(cè)量
- 各類Cell（微式、可拋式、粒徑微量、粒徑Flow、平板用、低導(dǎo)電率用等）
