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JEM-ARM200F NEOARM 原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡

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公司名稱(chēng)北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
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廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/2/26 16:13:20
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北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司

培科創(chuàng)新是一家專(zhuān)注于科學(xué)研究及工業(yè)應(yīng)用的儀器渠道商和系統(tǒng)解決方案提供商，我們?yōu)楦咝?、科研院所、企業(yè)等各類(lèi)客戶(hù)提供全面的儀器設(shè)備解決方案。公司成立于2012年，總部設(shè)在北京，在上海、深圳、沈陽(yáng)等地設(shè)有多個(gè)辦事處。
培科創(chuàng)新，與多家儀器制造商建立了良好的戰(zhàn)略合作關(guān)系，不斷優(yōu)化提升的公司自身營(yíng)運(yùn)和服務(wù)質(zhì)量，致力于向用戶(hù)提供國(guó)際的產(chǎn)品、化的解決方案和高品質(zhì)的專(zhuān)業(yè)服務(wù)，承擔(dān)著科技產(chǎn)業(yè)助推器的責(zé)任，服務(wù)并推動(dòng)科學(xué)研究和科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。

培科創(chuàng)新，秉承高度負(fù)責(zé)和誠(chéng)信的原則展開(kāi)業(yè)務(wù)，努力營(yíng)造員工和客戶(hù)之間互相尊重、坦誠(chéng)溝通、高效互動(dòng)的健康環(huán)境。我們了解客戶(hù)的實(shí)際需求，并提供合理優(yōu)質(zhì)的解決方案，并盡力滿足客戶(hù)的近期和長(zhǎng)期需求。培科在客戶(hù)的關(guān)注和員工們的努力中不斷進(jìn)步，擁有遍布全國(guó)的營(yíng)銷(xiāo)渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)、職業(yè)化的技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)。

優(yōu)秀的員工、科學(xué)的管理、高效的營(yíng)運(yùn)、便捷的信息網(wǎng)絡(luò)、雄厚的資金、多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)和*的經(jīng)營(yíng)理念，是我們服務(wù)于客戶(hù)的基礎(chǔ)和保證。

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簡(jiǎn)介NEOARM標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)–old-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）

JEM-ARM200F NEOARM 原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡產(chǎn)品信息

簡(jiǎn)介

“NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)–old-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無(wú)論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，采用日本電子獨(dú)自開(kāi)發(fā)的像差校正算法，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。由此實(shí)現(xiàn)了高通量的原子級(jí)分辨率成像。此外，新型STEM檢測(cè)器不依賴(lài)于加速電壓就可以獲得高襯度的輕元素圖像。因此，利用能增強(qiáng)輕元素襯度的新STEM成像技術(shù)（e-ABF法）可以更加簡(jiǎn)便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰（襯度）圖像。為了響應(yīng)近來(lái)已成為主流的遠(yuǎn)程操作的需求，NEOARM的電鏡室和操作室實(shí)行了分離式，主機(jī)使用了JEOL的新概念顏色—純白色和JEOL銀色，設(shè)計(jì)精煉時(shí)尚。

主要特點(diǎn)：

·球差校正器ASCOR（Advanced STEM Corrector）

·“NEOARM”配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差（即6重像散，目前阻礙透射電鏡分辨率進(jìn)一步提高的障礙。），ASCOR和Cold-FEG的組合實(shí)現(xiàn)了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率。

·自動(dòng)像差校正軟件JEOL COSMO™（Corrector System Module）

·JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法(SRAM：Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix)，校正像差不需要交換標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統(tǒng)校正算法的系統(tǒng)相比，JEOL CMSMO™能夠高速處理數(shù)據(jù)，并且使操作進(jìn)一步自動(dòng)化。因此，客戶(hù)在工作流程中可以簡(jiǎn)便高效地進(jìn)行高分辨率觀察及各種元素分析。

·新ABF（Annular Bright Field）檢測(cè)器系統(tǒng)

·ABF檢測(cè)器作為高分辨觀察輕元素的有效手段已被廣泛使用。“NEOARM”支持能增強(qiáng)輕元素襯度的新ABF成像技術(shù)（e-ABF：enhanced ABF），實(shí)現(xiàn)了對(duì)含有輕元素樣品的原子級(jí)結(jié)構(gòu)的觀察。

·Perfect sight檢測(cè)器

·STEM系統(tǒng)標(biāo)配的Perfect sight檢測(cè)器作為混合檢測(cè)器，采用了由不同材料制成的閃爍器。該檢測(cè)器具有的寬電壓適應(yīng)性，不依賴(lài)于加速電壓始終都可以獲得高襯度的STEM圖像，并可用于定量STEM的分析研究工作。

· Viewing Camera系統(tǒng)

·“NEOARM”標(biāo)配的Viewing Camera系統(tǒng)是以遠(yuǎn)程操控為前提而設(shè)計(jì)的利用雙相機(jī)觀察圖像的系統(tǒng)。此系統(tǒng)允許主機(jī)房和操作間分離，因此能夠靈活地安排操作環(huán)境。電鏡主機(jī)采用的純白色和JEOL銀色在室內(nèi)協(xié)調(diào)美觀，外觀設(shè)計(jì)精煉簡(jiǎn)潔。

產(chǎn)品規(guī)格

分辨率*1	STEM HAADF 圖像:　70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV)、160 pm (30 kV) TEM 信息分辨率:　100 pm (200 kV)、110 pm (80 kV)、250 pm (30 kV)
電子槍	標(biāo)配冷場(chǎng)電子槍
球差校正器	STEM: NEO ASCOR HOAC2、TEM: CETCOR with DSS3
校正器自動(dòng)合軸系統(tǒng)	日本電子NEO JEOL COSMO™ 自動(dòng)合軸系統(tǒng)、Ad-hock合軸（SIAM）
加速電壓	30 ～ 200 kV（標(biāo)配30、80、200 kV；選配60、120 kV）
無(wú)磁場(chǎng)模式	標(biāo)配洛倫茲模式、放大倍數(shù) ( ×50 ～ 80 k熒光屏為參考面)
樣品移動(dòng)系統(tǒng)	X,Y,Z 軸高精度機(jī)械驅(qū)動(dòng)、標(biāo)配超高精度壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)
操作類(lèi)型	RDS4 操作模式4