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環(huán)保APP正式上線

波長色散型X射線熒光光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱英國馬爾文儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號Axios-Adva
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/2/26 18:55:59
  • 訪問次數(shù)182
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各個行業(yè)和組織的科學(xué)家和工程師將 Malvern Panalytical 的技術(shù)用來解決一系列難題,如地提高生產(chǎn)率、開發(fā)更高質(zhì)量的產(chǎn)品及幫助產(chǎn)品更快速地上市。 我們的重中之重是通過對材料進(jìn)行化學(xué)、物理和結(jié)構(gòu)分析,打造出客戶導(dǎo)向型創(chuàng)新解決方案和服務(wù),從而提高效率和產(chǎn)生切實的經(jīng)濟影響。 憑借廣泛的行業(yè)知識和技術(shù)及應(yīng)用專業(yè)技術(shù),Malvern Panalytical 儀器旨在幫助用戶更好地了解各種各樣的材料,從蛋白質(zhì)和聚合物、顆粒和納米顆粒懸浮液和乳狀液,再到噴霧劑和氣霧劑、工業(yè)散裝粉末、礦物和高濃度漿類樣品及固體,例如金屬和建筑材料、塑料和聚合物。 使用我們的技術(shù)可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱、Zeta 電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、流變性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu)等參數(shù)。 這些特性的高可靠性和耐用性對于預(yù)測產(chǎn)品在使用過程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能,從而實現(xiàn)制造至關(guān)重要。Malvern Instruments Limited 和 PANalytical B.V. 宣布合并,新公司名為 Malvern Panalytical,總部位于阿爾默洛(荷蘭)和馬爾文(英國),擁有 2,000 多名員工。 合并后的公司將成為材料表征市場上強有力的競爭者和創(chuàng)新者,并且將充分利用兩家公司各自在建筑材料、制藥、金屬、礦業(yè)及納米材料等終端市場中的優(yōu)勢。 遍布的應(yīng)用實驗室以及受強大分銷商網(wǎng)絡(luò)支持的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)將確保提供的客戶支持水平。Malvern Panalytical 隸屬于制造提高生產(chǎn)率的儀器和控制設(shè)備的思百吉集團。
Axios-Advanced 波長色散型X射線熒光光譜儀:Axios-Advanced is engineered for excellence in terms of analytical and operational performance.
波長色散型X射線熒光光譜儀 產(chǎn)品信息
品牌PANALYTICAL/帕納科

Axios-Advanced 波長色散型X射線熒光光譜儀簡介:

Axios-Advanced is engineered for excellence in terms of analytical and operational performance. Technological innovation combined with decades of experience has produced the Axios-Advanced - the ultimate system for accurate and precise XRF analysis.


Axios-Advanced 波長色散型X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù):

X-ray tube: Rh-anode SST-maX
Generator:4.0kW
Software: Super Q with IQ+


主要特點:

Axios-Advanced. Highest accuracy and precision.

Precision
Accuracy
Sensitivity
Speed
Analytical flexibility

Light element sensitivity
The unparalleled light-element performance of the SST-mAX is further enhanced by the use of laterally curved crystals( Ge111, PE 002), which have outstanding sensitivity and spectral resolution for Cl, S, P, Si and Al.
Element-specific, high-reflectivity multilayer crystals are optional for the analysis of Be, B, C and N.

關(guān)鍵詞:熒光光譜儀 光譜儀
15168338725
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