上海勞瑞儀器設(shè)備有限公司(ShangHaiLrelInstrumentEKLXM-900A全自動機制砂顆粒形貌分析儀
設(shè)備簡介：
KLXM-900A全自動機制砂顆粒形貌分析儀是由上海勞瑞儀器設(shè)備有限公司推出的，用于測量機制砂形貌的專業(yè)分析儀器。設(shè)備具備兩種模式：自由落體和壓縮空氣分散，對10～10000微米內(nèi)的顆粒進行粒徑分布、形貌分布等參數(shù)檢測，顆粒＜75um采用壓縮空氣進行分散，大顆粒＞75um采用自由落體進行分撒，測量動態(tài)范圍寬，測量速度快，操作方便,是顆粒形貌測試領(lǐng)域的型設(shè)備。KLXM-900A全自動機制砂顆粒形貌分析儀廣泛應(yīng)用于機制砂顆粒形貌分析領(lǐng)域，KLXM-900A全自動機制砂顆粒形貌分析儀主要用于分析顆粒圓形度、長徑比等顆粒形貌參數(shù)。
詳細(xì)介紹：
- *的分散方式：
?空氣壓縮分散模式：通過壓縮空氣對顆粒進行分散，高速噴射顆粒至測試區(qū)域進行圖像采集。
?超聲波分散：采用超聲波對細(xì)顆粒和大顆粒分離開來并促使兩者分別匯集，從而能分別對大顆粒和小顆粒進行測試。
- 產(chǎn)品特點：
?準(zhǔn)確性高 - 準(zhǔn)確性誤差＜±3%；
?簡單效高 –操作簡單，全自動；
?高速分析 –顆粒分析數(shù)量>1000000個/分鐘；
?科學(xué)分散 –針對不同大小顆粒，采用不同分散方法和技術(shù)；
?軟件強大 –軟件功能強大，滿足客戶各種測試需求；
- 測試原理：
- 設(shè)備參數(shù)：
| 測試范圍 | 10-10000μm |
| 誤差 | 準(zhǔn)確性<3%；重復(fù)性性<3% |
| 光學(xué)照明 | 高亮LED平行面光源 |
| 鏡頭組 | 1倍和0.3倍高清遠(yuǎn)心鏡頭 |
| 成像CCD | 芯片尺寸 1/1.8英寸，幀率 39幀/S |
| 下料方式 | 電磁振動，數(shù)字速度可調(diào) |
| 分析顆粒數(shù)量 | >1000000個/分鐘 |
| 設(shè)備尺寸 | 600×380×290mm |
- 軟件功能：
- 任務(wù)管理機制：按照任務(wù)進行管理，保證資料管理井井有條。
- 視像采集：隨時進行視頻和圖片的采集，保留需要的視像資料。
- 比例尺標(biāo)定：通過比例尺標(biāo)定操作，可與實際尺寸建立關(guān)聯(lián)，從而直接在圖像上獲得實際尺寸數(shù)值。
- 測量：可以進行長度、圓周、多邊形、角度等多種測量操作。
- 圖片批處理模式：采用此模式，可邊采集邊處理，不受內(nèi)存限制，通過處理海量圖片獲得更加準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
- 顆粒自動處理工具集：自動去除顆粒粘連、自動去除雜點、自動去除邊界不完整顆粒、自動顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。
- 報告輸出：可選擇報告輸出樣式和數(shù)據(jù)種類，也可根據(jù)自己的需要定制報告模式。
- 結(jié)果輸出：
- 單個顆粒數(shù)據(jù)：面積等效直徑、周長等效直徑、馬丁徑、周長、投影面積、顆粒長、顆粒寬、表面積估算值、體積估算值、X切線、Y切線、切線徑、球型度長徑比。
- 統(tǒng)計平均徑：Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用統(tǒng)計平均徑。
- 粒徑分布：顆粒粒徑的分布圖表。
- 球形度分布：顆粒球形度分布的圖表。
- 長徑比分布：顆粒長徑比分布的圖表。
- 圓度分布：顆粒圓度分布的圖表。
- 分布類型：按數(shù)量分布、按體積分布、按面積分布、按長度分布等。
- 等效直徑類型：面積等效粒徑、周長等效粒徑、馬丁徑、針狀顆粒等效粒徑。
- 個數(shù)統(tǒng)計：如測試的樣品為顆粒樣品，可獲得樣品中顆粒的數(shù)量。
- 自定義表頭：自定義表頭顯示的LOGO以及測試人員等報告信息。
- 原始圖片/縮略圖：可以將帶有測量數(shù)據(jù)信息的圖片保存，便于發(fā)表論文等。
