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X熒光分析儀原理

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公司名稱深圳市美程精密電子有限公司
品牌
型號(hào)XAU-4C
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/3/25 19:54:35
訪問次數(shù)191

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深圳市美程精密電子有限公司，是一家集科學(xué)儀器研發(fā)、制造、銷售為一體的現(xiàn)代化。公司創(chuàng)立于2009年，經(jīng)過十年的艱苦奮斗和不斷創(chuàng)新，已成長為面向國內(nèi)、國際市場，擁有*的生產(chǎn)、檢測(cè)、試驗(yàn)設(shè)備，產(chǎn)品品種相對(duì)齊全、技術(shù)*、服務(wù)*的同行業(yè)*企業(yè)。產(chǎn)品包括光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀、 X射線類、前處理設(shè)備等幾大系列五十余種型號(hào),以及上百種試劑和上千種配套方法，全部擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán), 并擁有自主，廣泛應(yīng)用于各行各業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)，在擁有數(shù)萬家*客戶。深圳市美程儀器有限公司在中國分析儀器行業(yè)中通過ISO9001質(zhì)量體系、ISO14001環(huán)境體系和CE。并引入信息化工具，建立了較為完善的現(xiàn)代化企業(yè)管理制度。某某儀器在“實(shí)現(xiàn)對(duì)社會(huì)有長期貢獻(xiàn)，對(duì)從業(yè)者有良好的工作環(huán)境和發(fā)展空間的企業(yè)理想”的企業(yè)宗旨指導(dǎo)下，將“為了生活的安全與質(zhì)量”定為戰(zhàn)略目標(biāo)，確立了以提供解決方案為*的研發(fā)思路，以科技為發(fā)展的源動(dòng)力，堅(jiān)持致力于食品檢測(cè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、衛(wèi)生防疫、水利勘察等方面產(chǎn)品的研究。以客戶需求為出發(fā)點(diǎn)，充分利用規(guī)模優(yōu)勢(shì)為客戶提供儀器、試劑、方法、附件、技術(shù)培訓(xùn)等服務(wù)，基本實(shí)現(xiàn)了由設(shè)備制造商向系統(tǒng)集成服務(wù)商的轉(zhuǎn)變。

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X熒光分析儀原理產(chǎn)品介紹X熒光分析儀原理由深圳市美程精密電子有限公司現(xiàn)貨銷售X熒光分析儀原理,XAU系列熒光光譜儀是一機(jī)多用型光譜儀，應(yīng)用了核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚的性能，又可滿足微區(qū)ROHS檢測(cè)及成分分析

X熒光分析儀原理產(chǎn)品信息

X熒光分析儀原理產(chǎn)品介紹
X熒光分析儀原理由深圳市美程精密電子有限公司現(xiàn)貨銷售X熒光分析儀原理,XAU系列熒光光譜儀是一機(jī)多用型光譜儀，應(yīng)用了核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚的性能，又可滿足微區(qū)ROHS檢測(cè)及成分分析。

性能優(yōu)勢(shì)：
1.微小樣品檢測(cè)：*小測(cè)量面積0.03mm2（加長測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm2）
2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm
3.*的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可*測(cè)量。
4.*的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。
5.高性能探測(cè)器：SDD硅漂移窗口面積25mm2探測(cè)器。
6.X射線裝置：微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置。

一六儀器研制的測(cè)厚儀的光路交換裝置，讓X射線和可見光攝像同一垂直線，達(dá)到視覺與測(cè)試定位一體，且X光擴(kuò)散度小；與EFP軟件配合達(dá)到對(duì)焦、變焦雙焦功能，實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測(cè)試；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差，同時(shí)特征X射線可以穿透測(cè)試更厚的表層。

*的EFP算法
*的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。