UltraDry EDS 探測器特點(diǎn)：
- 非凡的操作空間，集成了*的場效應(yīng)晶體管（FET）和專用前置放大器，可實(shí)現(xiàn)性能
- 較小的集成 FET 從根本上消除電子噪聲
- 盡可能減少死時間且極大程度優(yōu)化分辨率，以有效地處理脈沖堆積和峰效應(yīng)
- 無需外部或液氮致冷，同時保持的數(shù)據(jù)采集速率
- 的開槽準(zhǔn)直器設(shè)計 — 能在較大距離范圍內(nèi)保持一致的數(shù)據(jù)采集效率 — 這對于雙 EDS 和 EBSD 采集是至關(guān)重要的
- 檢測器具有業(yè)內(nèi)優(yōu)化的立體角設(shè)計，有不同晶體有效面積（10 mm2、30 mm2、60 mm2、100 mm2）可供選擇，且包裝封套較小
- 計數(shù)率為 10,000 次/秒（存儲在光譜中）時，在電子顯微鏡上測得 FWHM（ISO 15632）為 5.89keV（Mn-Kα）
- WD 范圍通過改變極靴與樣品表面之間的垂直距離并檢測輸入計數(shù)進(jìn)行測量。STD 距離為 50mm。TOA 為 35°。規(guī)定范圍為在優(yōu)化工作距離的峰值計數(shù)率的 25% 以內(nèi)。
- 垂直開槽的準(zhǔn)直器可實(shí)現(xiàn)較大 WD 范圍。雙 EDS/EBSD 采集模式的必要要求。
- 可低至鈹?shù)妮p元素靈敏度
- 無外部輔助散熱連接、水或風(fēng)扇。無液氮。
- 運(yùn)行環(huán)境至 35 °C
- 在給定的分析時間常數(shù)下，從最小到計數(shù)率，分辨率變化為 ±5 eV（從 1% 至 60% 的死時間通常為 ±3eV）
- 在給定的分析時間常數(shù)下，從最小到計數(shù)率，峰位移為 ±5eV（從 1% 至 60% 的死時間通常為 ±3eV）
- 輸入計數(shù)率 >1,000,000 次/秒
- 可選配電動滑軌
