美國(guó)filmetrics 薄膜測(cè)量?jī)xF10-AR-UV增透膜測(cè)量
輕松且經(jīng)濟(jì)地測(cè)量減反射涂層和硬質(zhì)涂層
F10-AR 是首的款專為簡(jiǎn)單、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測(cè)量而設(shè)計(jì)的儀器。 AR 涂層測(cè)量?jī)x器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項(xiàng)專有的技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過(guò)幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行通過(guò)/不通過(guò)測(cè)試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測(cè)量系統(tǒng)高出五倍。測(cè)量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級(jí)。即使存在 AR 層，測(cè)量硬涂層厚度也沒(méi)有問(wèn)題。
無(wú)需背面準(zhǔn)備
我們獨(dú)的特的探頭設(shè)計(jì)可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測(cè)量系統(tǒng)一樣，F(xiàn)10-AR 可連接到 Windows® 計(jì)算機(jī)的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。
美國(guó)filmetrics 薄膜測(cè)量?jī)xF10-AR-UV增透膜測(cè)量
輕松且經(jīng)濟(jì)地測(cè)量減反射涂層和硬質(zhì)涂層
F10-AR 是首的款專為簡(jiǎn)單、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測(cè)量而設(shè)計(jì)的儀器。 AR 涂層測(cè)量?jī)x器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項(xiàng)專有的技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過(guò)幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行通過(guò)/不通過(guò)測(cè)試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測(cè)量系統(tǒng)高出五倍。測(cè)量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級(jí)。即使存在 AR 層，測(cè)量硬涂層厚度也沒(méi)有問(wèn)題。
無(wú)需背面準(zhǔn)備
我們獨(dú)的特的探頭設(shè)計(jì)可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測(cè)量系統(tǒng)一樣，F(xiàn)10-AR 可連接到 Windows® 計(jì)算機(jī)的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。
