賽默飛熱電K-Alpha X射線光電子能譜儀的易操作性,可同時滿足經(jīng)驗(yàn)豐富的XPS分析人員和初學(xué)者的需求。分析選項(xiàng)包括用于角分辨XPS數(shù)據(jù)采集的傾斜模塊和用于空氣敏感樣品傳輸?shù)目裳h(huán)惰性氣體手套箱。
強(qiáng)大的性能
X射線光斑大小連續(xù)可調(diào)
深度剖析
微聚焦單色器
高分辨率、靈敏度能譜儀
快照采集
絕緣樣品分析
XPI成像
易用性
一鍵式樣品導(dǎo)航和實(shí)驗(yàn)設(shè)定
自動樣品傳輸
按需校準(zhǔn)
全能譜儀設(shè)定
離子槍設(shè)定
計算機(jī)操作
賽默飛熱電K-Alpha X射線光電子能譜儀軟件
Thermo Scientific Advantage數(shù)據(jù)系統(tǒng),包括:
•儀器控制
•數(shù)據(jù)采集
•數(shù)據(jù)解析
•數(shù)據(jù)處理
•報告生成
•數(shù)據(jù)存檔管理
•審查跟蹤日志
•系統(tǒng)性能日志
X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術(shù),主要用來表征材料表面元素及其化學(xué)狀態(tài)。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應(yīng),激發(fā)樣品表面發(fā)射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據(jù)B.E=hv-K.E-W.F,進(jìn)而得到激發(fā)電子的結(jié)合能(B.E)。