X-ray無損檢測,資源配置完善,5天出報告服務內(nèi)容
● 對金屬材料及零部件、電子元器件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷進行檢測,以及對BGA、線路板等內(nèi)部位移的分析
● 判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷,對電纜,裝具,塑料件等內(nèi)部情況進行分析
主要用于SMT.LED.BGA.CSP倒裝芯片檢測,半導體,封裝元件,鋰電池工業(yè),電子元器件,汽車零部件,光伏行業(yè),鋁壓鑄模鑄造,模壓塑料,陶瓷制品等特殊行業(yè)。
參照標準
● GB/T19293-2003
● GB17925-2011
● GB/T 23909.1-2009等等。
測試周期
常規(guī)5-7個工作日
測試流程
1.確認樣品類型和材料
2.樣品放入X-ray設備檢測
3.拍照分析
4.標注缺陷類型以及位置
服務背景
X射線檢查技術根據(jù)工件檢查圖像的獲取方法不同,分為X射線檢查技術和數(shù)字射線檢查技術。X射線成像技術發(fā)展歷史悠久,技術成熟,應用廣泛,為其它射線成像技術的發(fā)展奠定了堅實的基礎。傳統(tǒng)的人工視覺檢測是最不準確、重復性最差的技術,無法及時發(fā)現(xiàn)并糾正,人工視覺檢測是。所以X-ray檢測技術在SMT回流焊后檢測中的應用日益廣泛。既能對焊點進行定性分析,又能及時發(fā)現(xiàn)故障并糾正。
我們的優(yōu)勢
廣電計量X-ray無損檢測,資源配置完善,5天出報告聚焦集成電路失效分析技術,擁有專家團隊及先進的失效分析設備,可為客戶提供完整的失效分析檢測服務,幫助制造商快速準確地定位失效,找到失效根源。同時,我們可針對客?的研發(fā)需求,提供不同應?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實驗規(guī)劃、以及分析測試服務,如配合客戶開展NPI階段驗證,在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。