美國GE Mentor UT 相控陣探傷儀產(chǎn)品簡介 點(diǎn)擊下載?
MentorUT
全新概念便攜式相控陣超聲探傷儀
全新相控陣超聲檢測理念
GE檢測科技一直致力于使用新技術(shù)提高超聲檢測的可靠性,檢測效率,降低超聲檢測對人員的要求,同時(shí)降低檢測成本。相控陣超聲檢測技術(shù)大大提高了檢測的可靠性與效率,然而相控陣超聲檢測技術(shù)提高了對檢測人員的要求,增加了人員培訓(xùn)成本。
為了降低相控陣超聲檢測對人員的要求,降低人員培訓(xùn)成本,在設(shè)計(jì)相控陣超聲探傷儀時(shí)采用了全開放式儀器設(shè)計(jì)平臺(tái),將復(fù)雜的檢測工藝融入自定義的向?qū)讲僮鹘缑?,使相控陣檢測探傷儀操作限度簡單化,降低檢測人員培訓(xùn)成本。在儀器設(shè)計(jì)中采用了的電子技術(shù),確保優(yōu)異的性能及各種功能能夠滿足各種檢測要求,同時(shí)使用了的工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)技術(shù),使相控陣超聲數(shù)據(jù)傳輸,遠(yuǎn)程控制更加便捷。
全開放式的儀器操作平臺(tái)
全開放式的儀器操作平臺(tái)Mentor Create 可以讓用戶根據(jù)自已的要求設(shè)計(jì)儀器的操作界面,根據(jù)自已的要求設(shè)計(jì)所需菜單,自已設(shè)計(jì)顯示圖像大小等等。
將檢測工藝融合到應(yīng)用
用戶可以在Mentor Create 軟件平臺(tái)自已設(shè)計(jì)并創(chuàng)建檢測應(yīng)用 APP, 在設(shè)計(jì)APP 時(shí),用戶可以將檢測工藝標(biāo)準(zhǔn)融入APP 中,根據(jù)檢測工藝設(shè)計(jì)檢測流程,操作界面,操作菜單,顯示界面,生成的APP 可以運(yùn)行于所有的Mentor UT 主機(jī)。
限度降低對檢測人員的要求
向?qū)降臋z測工藝流程限度降低了對檢測人員的要求,在檢測工藝流程中可以融入文檔,圖片,視頻等內(nèi)容,降低檢測人員犯錯(cuò)的概率,降低人為因素對檢測結(jié)果的影響。
應(yīng)用了的電子技術(shù)
240mm 超大觸摸屏顯示
高靈敏觸摸屏支持帶手套進(jìn)行操作
IP65 防護(hù)等級
360 度可讀顯示屏
通過MIL-STD-810G 標(biāo)準(zhǔn)測試認(rèn)證
強(qiáng)大的相控陣功能
支持A掃描,B掃描,扇形掃描,C掃描
支持同時(shí)激發(fā)32晶片
支持128晶片探頭
20KHz超高脈沖重復(fù)頻率
C掃描保存所有的A掃描原始數(shù)據(jù)
離線動(dòng)態(tài)C掃描實(shí)時(shí)顯示
測量峰值800%
支持雙晶相控陣模式
基于互聯(lián)網(wǎng)+檢測管理平臺(tái)
MentorUT可以通過無線網(wǎng)絡(luò)接入到互聯(lián)網(wǎng)或局域網(wǎng),通過互聯(lián)網(wǎng)可以在實(shí)時(shí)共享檢測界面,與檢測專家實(shí)時(shí)互動(dòng)分析顯示缺陷信號(hào),并且對MentorUT進(jìn)行遠(yuǎn)程控制與診斷。同時(shí)在檢測現(xiàn)場,可以同時(shí)通過多臺(tái)手機(jī),平板電腦等移動(dòng)終端設(shè)備同時(shí)顯示儀器界面,并對儀器進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。
滿足各種檢測應(yīng)用要求
通過Mentor UT 檢測腐蝕可以很容易實(shí)現(xiàn) 大面積掃查,容易找到最嚴(yán)重腐蝕點(diǎn),通過C 掃描圖像直接顯示腐蝕輪廓,測量腐蝕大小,近表面分辨率達(dá)2mm, 配備各種掃查器滿足各種工況要求,實(shí)現(xiàn)手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)掃查。
焊縫檢測
通過相控陣多角度大面積掃查可以極大提高檢測效率,提高缺陷的檢出率,通過圖像直觀顯示缺陷信息,使缺陷的定量,定性更加準(zhǔn)確,在B 掃描和C 掃描圖像上可以準(zhǔn)確測量缺陷的尺寸信息。配備各種掃查器可滿足各種現(xiàn)場檢測要求,可實(shí)現(xiàn)手動(dòng) ,半自動(dòng),全自動(dòng)掃查。
小管徑焊縫檢測
小管薄壁管焊縫檢測時(shí),由于管徑小,探頭接觸面積小,而且壁厚較薄,需要特殊掃查器進(jìn)行檢測,該掃查器由3D 打印而成,操作非常方便,耦合非常穩(wěn)定。
復(fù)合材料檢測
小管徑焊縫檢測
通過Mentor UT 可以很方便對復(fù)合材料實(shí)現(xiàn)便攜式C 掃描檢測,大面積掃查可以提高檢測效率,提高檢測分辨率與靈敏度,可以在C 掃描圖上直接測量出缺陷尺寸大小和位置信息。
各種選配掃查器
為了滿足各種現(xiàn)場檢測要求,可以選配各種一維,二維掃查器實(shí)現(xiàn)手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)檢測。
模塊化設(shè)計(jì)
為了滿足各種應(yīng)用需求,Mentor UT 采用模塊化設(shè)計(jì),根據(jù)不同應(yīng)用要求可選擇不同模塊,Mentor UT 主機(jī)支持32:32 激發(fā),能夠同時(shí)激發(fā)32 晶片,支持32 單晶與雙晶相控陣探頭,如果需要大面積掃查,在Mentor UT 主機(jī) 上加配一個(gè)MUX 多路切換器即可支持128 晶片相控陣探頭。為了使Mentor UT 與各種接口探頭兼容,可訂購各種探頭接口轉(zhuǎn)換器。
Mentor UT 32:32 主機(jī)
Mentor UT 32:32 主機(jī)帶轉(zhuǎn)換器
Mentor UT 32:128 主機(jī)帶MUX 多路切換器