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環(huán)保APP正式上線

雙束掃描電子顯微鏡檢測,材料微觀分析

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱廣電計量檢測集團股份有限公司
  • 品       牌廣電計量
  • 型       號
  • 所  在  地廣州市
  • 廠商性質工程商
  • 更新時間2024/11/6 8:46:24
  • 訪問次數779
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廣電計量檢測集團股份有限公司(簡稱:廣電計量)成立于2002年,是廣州無線電集團旗下A股上市企業(yè)。廣電計量前身是原電子602計量站,經過多年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測機構,專注于為客?提供計量、檢測、認證、評價咨詢等“一站式”技術服務,在計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業(yè)務規(guī)模處于高水平。


廣電計量堅持以客戶為中心,在全國主要經濟圈設有60多家分子公司,擁有近6000名優(yōu)秀員工,搭建了全國一體化計量檢測與認證技術公共服務平臺。企業(yè)服務能力覆蓋裝備制造、汽車、航空、軌道交通、船舶、通信、電力、電子電器、食品、環(huán)保、農業(yè)、醫(yī)療、石化等領域,可迅速響應各行業(yè)產業(yè)鏈上下游客戶需求,為客戶提供近距離、本地化的專業(yè)服務,幫助其提升自身競爭力。

廣電計量視公信力為企業(yè)生命,技術能力獲得了眾多國內外機構和組織的認可和,通過了中國合格評定國家認可委員會(CNAS)、中國計量認證(CMA)、農產品質量安全檢測機構(CATL)認可,是農業(yè)部“三品一標”檢測實驗室、全國土壤污染詳查推薦檢測實驗室、中國CB實驗室?;诒椴既珖姆站W絡和公信力,廣電計量幫助客戶穩(wěn)健開拓本地市場乃至市場。


廣電計量堅持創(chuàng)新驅動戰(zhàn)略,致力于增強自主創(chuàng)新能力與核心競爭力,推動中國標準和中國制造走向世界。公司建有省市兩級院士工作站,搭建了技術研究院、產業(yè)研究院等科研平臺。在新能源汽車、軌道交通、無線通信等國家重點產業(yè)領域,先后主持編寫90多項計量測試標準及規(guī)程,承擔60多項國家、省部級等重點科研項目。

作為一家具有高度社會責任感的國有企業(yè),廣電計量以“傳遞質量信任、讓人民生活更美好”為己任,全過程為產品質量安全、食品安全、生態(tài)環(huán)境安全和公平競爭市場秩序提供專業(yè)技術支撐,并在扶危濟困、捐資助學、疫情防控等方面以實際行動踐行社會責任,爭做優(yōu)秀國企標兵。

     

在高質量發(fā)展的新時代,廣電計量將繼續(xù)秉持科學、公正、準確、快捷、周到的服務理念,不斷提升綜合管理水平,增強技術服務能力,為“質量強國”建設保駕護航,為保障人民群眾的美好生活不懈努力!

 

 

 

環(huán)保監(jiān)測,土壤檢測,水質檢測,噪音檢測,三廢檢測,計量校準,環(huán)境可靠性測試,化學材料檢測
服務區(qū)域 全國 服務資質 CMA/CNAS
服務周期 常規(guī)5-7個工作日 服務費用 視具體項目而定
雙束掃描電子顯微鏡(DB-FIB)是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺顯微鏡上,再加裝氣體注入系統(tǒng)(GIS)和納米機械手等配件,從而實現(xiàn)刻蝕、材料沉積、微納加工等許多功能的儀器。廣電計量能提供一站式雙束掃描電子顯微鏡檢測,材料微觀分析服務。
雙束掃描電子顯微鏡檢測,材料微觀分析 產品信息

服務內容

廣電計量的DB-FIB均配備了納米機械手,氣體注入系統(tǒng)(GIS)和能譜EDX,能夠滿足各種基本和高階的半導體失效分析需求。還將持續(xù)不斷地投入先進電子顯微分析設備,不斷提升和擴充半導體失效分析相關能力,為客戶提供細致且全面深入的失效分析解決方案。廣電計量能提供一站式雙束掃描電子顯微鏡檢測,材料微觀分析服務

服務范圍

目前DB-FIB被廣泛應用于陶瓷材料、高分子、金屬材料、生物、半導體、地質學等領域的研究和相關產品檢測。

檢測標準

廣電計量雙束掃描電子顯微鏡檢測,材料微觀分析服務執(zhí)行:國家標準(GB/T)、國家汽車行業(yè)標準(QC/T)、國際標準(ISO)、以及國內外各大汽車主機廠標準。

測試項目

1、定點截面加工

2、TEM樣品成像分析

3、選擇性刻蝕或增強刻蝕檢驗

4、金屬材料沉積和絕緣層沉積測試

檢測資質

CNAS、CMA

檢測周期

常規(guī)5-7個工作日

服務背景

著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發(fā)展,器件及電路結構越來越復雜,這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB雙束掃描電鏡所具備的強大的精細加工和微觀分析功能,使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。

 FIB雙束掃描電鏡是指同時具有聚焦離子束(FocusedIonBeam,F(xiàn)IB)和掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)功能的儀器。它可以實現(xiàn)SEM實時觀測FIB微加工過程的功能,把電子束高空間分辨率和離子束精細加工的優(yōu)勢集于一身。其中,F(xiàn)IB是將液態(tài)金屬離子源產生的離子束經過加速,再聚焦于樣品表面產生二次電子信號形成電子像,或強電流離子束對樣品表面刻蝕,進行微納形貌加工,通常是結合物理濺射和化學氣體反應,有選擇性的刻蝕或者沉積金屬和絕緣層。

我們的優(yōu)勢

廣電計量聚焦集成電路失效分析技術,擁有業(yè)界專家團隊及目前市場上先進的Ga-FIB系列設備,可為客戶提供完整的失效分析檢測服務,幫助制造商快速準確地定位失效,找到失效根源。同時,我們可針對客?的研發(fā)需求,提供不同應?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實驗規(guī)劃、以及分析測試服務,如配合客戶開展NPI階段驗證,在量產階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。


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