1高精度偏光顯微熔點儀XRD 特點和應用方向
XRD型偏光顯微熔點儀是專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料科學而研制。與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察記錄其融化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化。并采用人性化設(shè)計，自動化程度高，操作簡單，技術(shù)*，性能優(yōu)秀，結(jié)構(gòu)新穎可靠。
2高精度偏光顯微熔點儀XRD 產(chǎn)品參數(shù)
技術(shù)規(guī)格
輸入電源 | 交流170-264V 50/60HZ |
熱臺加熱工作電源 | 直流24V 3A |
功耗 | 75W |
溫度范圍 | 室溫-400℃ |
熱臺外體溫度 | 當熱體400℃，室溫25℃時，外體溫度≤70℃ |
熱體載物重量 | 200克，加熱體大小Ф30 |
工作方式 | 連續(xù) |
測量精度 | 全范圍≤±0.3% |
系統(tǒng)波動度 | ±1℃ |
升溫速度 | 室溫～100℃，≤80秒 |
可設(shè)置最慢升溫速度 | 室溫達到400℃，4小時 |
可設(shè)置升溫速度范圍 | 占空比0～99% |
即刻恒溫響應時間 | ＜10毫秒 |
工作臺外型尺寸 | 直徑110MM，厚度12MM |
工作臺加熱面尺寸 | 37MM |
重量 | 8KG |
