The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術(shù),繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。
控制和性能
具有固有的位移控制,位移范圍從
Hysitron PI 89的緊湊設(shè)計允許的樣品臺傾斜,以及測試時成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能:
重新設(shè)計的結(jié)構(gòu)增加適用性和易用性
1 nm精度的線性編碼器實現(xiàn)更大范圍下更好的自動測試定位重復(fù)性
更高的框架剛度(~ x 106 N/m)提供測試過程更好的穩(wěn)定性
兩種旋轉(zhuǎn)/傾斜模式實現(xiàn)城鄉(xiāng)、FIB加工、以及各種探測器的聯(lián)用,包括EDS, CBD, EBSD, and TKD等。