ICP光譜儀故障簡(jiǎn)單排除方法
在ICP光譜分析中，ICP光譜儀出現(xiàn)各種各樣的故障問(wèn)題是難免的，故障的產(chǎn)生將給測(cè)試工作帶來(lái)許多的不利因素，如果操作者掌握一些儀器故障的簡(jiǎn)單排除方法，會(huì)給日常測(cè)試工作帶來(lái)很大便利。
如果遇到復(fù)雜的儀器故障問(wèn)題，操作者如果能準(zhǔn)確而詳盡地描述故障現(xiàn)象，也會(huì)給維修人員給予極大的幫助，使廠家維修人員可以不再現(xiàn)場(chǎng)的情況下對(duì)儀器的故障正確判斷，有的故障可以通過(guò)電話指導(dǎo)幫助操縱人員排除;即使相對(duì)復(fù)雜的問(wèn)題，廠家維修人員也能在現(xiàn)場(chǎng)時(shí)做好充足的準(zhǔn)備工作，使故障問(wèn)題可以盡快解決。
目前各個(gè)廠家各個(gè)型號(hào)的ICP光譜儀計(jì)算機(jī)系統(tǒng)都有它自己的診斷程序，在診斷程序的幫助下會(huì)給操作者提供正確的檢查方法，方便操作者查找儀器的故障，所以在儀器出現(xiàn)故障時(shí)，操作者首先要確認(rèn)儀器的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)是否正常工作，根據(jù)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的提示尋找故障部位。
另外操作者還可以通過(guò)聽(tīng)、看和摸等方式來(lái)確定儀器故障。
ICP光譜儀的故障與其使用環(huán)境、儀器的性能、操作人員的業(yè)務(wù)能力及日常維護(hù)水平密切相關(guān)。其故障可分為性能故障和使用故障兩大類(lèi)。
性能故障時(shí)由于儀器本身設(shè)計(jì)或安裝或某些元器件不符合要求而引起;使用故障時(shí)儀器的使用環(huán)境不符合儀器的要求，或是由于操作者未按照規(guī)定要求使用和維護(hù)儀器不當(dāng)而引起的。同一個(gè)故障既可能有性能故障引起，也能由使用故障而引起，因此要根據(jù)儀器故障現(xiàn)象來(lái)一一識(shí)別。
ICP光譜儀原理是什么？
ICP光譜儀又稱(chēng)分析儀，廣泛為認(rèn)知的為直讀ICP光譜儀。以光電倍增管等光探測(cè)器測(cè)量譜線不同波長(zhǎng)位置強(qiáng)度的裝置。它由一個(gè)入射狹縫，散系統(tǒng)，一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(zhǎng)或波長(zhǎng)區(qū)域，并在選定的波長(zhǎng)上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。分為單色儀和多色儀兩種。
ICP光譜儀的工作原理：
根據(jù)現(xiàn)代ICP光譜儀器的工作原理，ICP光譜儀可以分為兩大類(lèi)：經(jīng)典ICP光譜儀和新型ICP光譜儀。經(jīng)典ICP光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型ICP光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器。經(jīng)典ICP光譜儀器都是狹縫ICP光譜儀器。調(diào)制ICP光譜儀是非空間分析的，它采用圓孔進(jìn)光。根據(jù)色散組件的分析原理，ICP光譜儀器可分為：棱鏡ICP光譜儀，衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。
光學(xué)多道分析儀OMA是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測(cè)器(CCD)和計(jì)算機(jī)控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲(chǔ)諸功能于一體。
由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測(cè)量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率;使用OMA分析光譜，測(cè)量準(zhǔn)確迅速，方便，且靈敏度高，響應(yīng)時(shí)間快，光譜分辨率高，測(cè)量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī)，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測(cè)量，分析及研究工作中，特別適應(yīng)于對(duì)微弱信號(hào)，瞬變信號(hào)的檢測(cè)。
ICP光譜儀的校正
ICP光譜儀校正的目的是消除環(huán)境溫度造成的光學(xué)系統(tǒng)漂移與機(jī)械震動(dòng)造成的機(jī)械位移。通常，在儀器安裝調(diào)試過(guò)程中首先要進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)校正；在儀器正常使用過(guò)程中根據(jù)環(huán)境溫度的條件適當(dāng)進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)校正。 在PRODIGY儀器中，由于儀器本身有恒溫系統(tǒng)，操作人員只要控制儀器達(dá)到恒溫條件，即可正常進(jìn)行分析測(cè)量，無(wú)須頻繁校正光學(xué)系統(tǒng)。
波長(zhǎng)校正
在使用任何一個(gè)元素、任何一個(gè)波長(zhǎng)進(jìn)行分析測(cè)量之前，都要做波長(zhǎng)校正。波長(zhǎng)校正的目的是：對(duì)事先存儲(chǔ)在譜線庫(kù)中的理論波長(zhǎng)坐標(biāo)位置進(jìn)行修正、保證實(shí)際使用的波長(zhǎng)坐標(biāo)位置準(zhǔn)確。
儀器安裝調(diào)試以后，波長(zhǎng)校正不需要經(jīng)常做。如果實(shí)驗(yàn)室溫度變化較大，應(yīng)適當(dāng)進(jìn)行波長(zhǎng)校正。
