XAU | |
RoHS分析 | 有害元素檢測,RoHS(As、Pb、Hg、Cd、Cr、Br)、鹵素 |
涂鍍層檢測 | 選配 |
EFP算法 | 標配 |
軟件操作 | 人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作 |
探測器 | Si-Pin半導體探測器 |
X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
準直器 | Φ5mm |
微光聚焦技術(shù) | 最近測距光斑擴散度 10% |
濾光片 | 集成嵌入式多濾光片切換裝置 |
樣品觀測 | 1/2.7”彩色CCD,變焦功能 |
對焦方式 | 高敏感鏡頭,手動對焦 |
放大倍數(shù) | 光學38-46X,數(shù)字放大40-200倍 |
儀器尺寸 | 470mm*550mm*480mm |
樣品腔高度 | 215mm |
樣品臺移動 | 無 |
儀器重量 | 45KG |
其他附件 | 電腦一套、打印機、附件箱、RoHS標準片 |
X射線標準 | DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568 |
一、產(chǎn)品優(yōu)勢:
XAU是一款針對RoHS、鹵素檢測分析而開發(fā)出來的高集成光譜分析儀;
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用;
1. 裝配Si-PIN半導體探測器,大大提高了檢測范圍及精度;
2. 人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作;
3. RoHS、鹵素有害元素檢測,檢出限可達2ppm;
4. 配有微光聚集技術(shù),最近測距光斑擴散度小于10%;
5. 采用高清晰攝像定位系統(tǒng),樣品觀察清晰,定位準確;
6. 核心配件高集成模塊化設計,結(jié)構(gòu)緊湊,避免相互電磁干擾,提高了儀器的檢出限,降低了儀器的故障率;
7. 下照式設計,測樣快捷;
8. 一鍵RoHS檢測,自動識別材料類別并自動匹配程式,實現(xiàn)一鍵分析。