產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品簡介
TSU作為反應(yīng)危險(xiǎn)評(píng)估篩選步的工具，提供了比傳統(tǒng)的DSC/DTA更全面的數(shù)據(jù)支持和應(yīng)用方案，增加了氣體測量及壓力數(shù)據(jù)— 對(duì)于判定潛在的爆炸危害至關(guān)重要。
放熱反應(yīng)的溫度突變起始點(diǎn)
反應(yīng)失控的壓力突變起始點(diǎn)
TSU操作方便，除了可以提供與DSC/DTA類似的溫度數(shù)據(jù)外，還可以提供反應(yīng)全過程的壓力數(shù)據(jù)。此外，TSU具有更大的樣品量，工作容積為1ml ~ 8 ml，使得測試結(jié)果更具有代表性。此外，TSU還可搭配外部冷卻循環(huán)裝置進(jìn)行低溫及超低溫測試。
實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ?/em>
儀器的測試原理是通過爐體的程序控溫，來分別探測樣品的溫度和壓力數(shù)據(jù)，如果有放熱現(xiàn)象或（和）氣體產(chǎn)生，則在溫度及壓力圖線上會(huì)看到明顯的峰型曲線。
標(biāo)準(zhǔn)可選模式包括
恒溫模式
雙掃描模式
梯度掃描模式
系統(tǒng)配備了HEL WinISO研發(fā)的智能化綜合控制軟件平臺(tái)——界面友好直觀，多步實(shí)驗(yàn)過程邏輯可控性強(qiáng)。在實(shí)驗(yàn)過程中，所有數(shù)據(jù)會(huì)實(shí)時(shí)以圖表方式顯示。所有的實(shí)驗(yàn)步驟（包括當(dāng)前運(yùn)行步驟）可以即時(shí)修改，所有的實(shí)驗(yàn)修改及調(diào)整操作都會(huì)被自動(dòng)記錄于數(shù)據(jù)輸出文件中。
多單元平行篩選
可用一臺(tái)電腦同時(shí)控制多臺(tái)TSU并行運(yùn)轉(zhuǎn)，從而提高大量樣品的篩選效率，獲得的性價(jià)比。儀器設(shè)計(jì)緊湊，在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的通風(fēng)櫥位上可以放置多個(gè)單元，搭建平行篩選平臺(tái)。
特點(diǎn)和優(yōu)勢
TSU的設(shè)計(jì)
11ml高壓測試池，材料：玻璃、不銹鋼、哈氏合金及其它合金
大樣品量具有更好的測試代表性，可測試各種液體、固體及混合物質(zhì)
溫度范圍：室溫~500° C，控精溫度0.01° C
壓力傳感器范圍可選，標(biāo)準(zhǔn)配置0-200bar
應(yīng)用
反應(yīng)物質(zhì)，中間態(tài)產(chǎn)物和成品物質(zhì)的熱穩(wěn)定性分析
支持液體和固體物質(zhì)測試
物質(zhì)長期暴露于高溫模式下的性能評(píng)估（恒溫模式測試）
評(píng)估安全操作溫度和物質(zhì)儲(chǔ)藏溫度，以及熱失控反應(yīng)后果推斷
低溫測試（可選模塊）
關(guān)鍵數(shù)據(jù)
放熱反應(yīng)的溫度突變起始點(diǎn)
溫升速率
壓升速率
反應(yīng)最終溫度和最終壓力
絕熱至爆時(shí)間
低溫?zé)岷Y選
TSU的低溫?zé)岷Y選測試
大部分化學(xué)反應(yīng)需要在低溫條件下進(jìn)行，而標(biāo)準(zhǔn)熱篩選儀則僅可在室溫開始進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。HEL的TSU熱篩選儀擴(kuò)展了低溫測試功能，能夠測試低溫環(huán)境下物質(zhì)的熱穩(wěn)定性，這樣一突破性的功能取決于以下兩個(gè)重要組件的性能優(yōu)勢：
系統(tǒng)機(jī)械性能的設(shè)計(jì)改進(jìn)，爐體及測試池部分能夠通過制冷設(shè)備進(jìn)行簡單快速的控溫冷卻，可操作溫度由其外接制冷設(shè)備的性能決定（注：采用介質(zhì)制冷，遠(yuǎn)優(yōu)于“風(fēng)冷”，不會(huì)產(chǎn)生擾流、湍流等影響樣品本身熱性能測試的問題）。
全自動(dòng)軟件使得儀器可以從任何起始溫度開始進(jìn)行穩(wěn)定測試，需任何額外校準(zhǔn)。
事實(shí)上，以上兩個(gè)特性的結(jié)合，使得TSU系統(tǒng)可立即連接制冷設(shè)備擴(kuò)展其工作溫度范圍。這意味著TSU的低溫模塊設(shè)計(jì)與標(biāo)準(zhǔn)模塊設(shè)計(jì)融為一體，地實(shí)現(xiàn)了從超低溫/低溫、到室溫、直至高溫測試性能的一致性。
