設備名稱：場發(fā)射透射電子顯微鏡

型號： Tecnai G2 F20 S-Twin

廠家： 美國FEI 公司

主要用途：

 ? 該電鏡是一臺功能強大的材料分析型電子顯微鏡，廣泛應用于生物、醫(yī)藥、化工、金屬、半導體材料、

   高分子材料、陶瓷、納米材料等領域，可對材料的粒度、形貌、成分、內(nèi)部結構和缺陷進行分析；

? 其配備的STEM/HAADF附件可以成和原子序數(shù)相關的像，和能譜儀結合還可以很方便的測量樣品微區(qū)

   元素的線分布和面分布，對于高分辨像的解析非常有利；

? 像素高達2K×2K的CCD可以及時將電子顯微像轉(zhuǎn)換成數(shù)字照片進行輸出，方便了用戶。

主要配置：

? Gatan 894 CCD（2K×2K）

? STEM/HAADF探測器

? 美國EDAX能譜儀

? 低劑量曝光

? 單傾樣品桿、雙傾樣品桿、低背景雙傾樣品桿

性能指標：

? 場發(fā)射電子槍

? 加速電壓：20-200 kV連續(xù)調(diào)節(jié)

? 放大倍數(shù)：25-1,000,000

? 點分辨率：0.24nm

? 線分辨率：0.102nm；

? 信息分辨率:≤0.14nm

? STEM分辨率：0.20 nm

? STEM放大倍數(shù):200-100,000,000

? EDS分辨率:優(yōu)于136 eV，分辨元素范圍B5-U92

? 樣品傾角：±40°