高低溫環(huán)境檢測儀器性能指標符合GB《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法、低溫、高溫試驗設(shè)備》的要求;>試驗A:低溫試驗方法GB 2423. 1-89(IEC68-2-1);試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89(IEC68-2-2)。主要用于檢測材料在各種環(huán)境下,耐熱、耐寒、耐干性能。
高低溫環(huán)境檢測儀器的參數(shù):
升降溫速率:
RT<----->150℃ 約35分鐘(非線性空載,約3.0℃/分鐘)。
RT<----->-20℃ 約45分鐘(非線性空載,約1.0℃/分鐘)。
解析精度: 0.01℃。
控制精度:≤±0.5℃。
均勻度:≦2.0℃。
(除了以下標準尺寸柳沁還可以為大家定制非標尺寸)
LQ-GD-80試驗箱內(nèi)尺寸(W*D*H)mm:400*400*500。
LQ-GD-150試驗箱內(nèi)尺寸(W*D*H)mm: 500*500*600。
LQ-GD-225試驗箱內(nèi)尺寸(W*D*H)mm: 600*500*750。
LQ-GD-408試驗箱內(nèi)尺寸(W*D*H)mm: 600*800*850。
LQ-GD-800試驗箱內(nèi)尺寸(W*D*H)mm: 1000*800*1000。
LQ-GD-1000試驗箱內(nèi)尺寸(W*D*H)mm:1000*1000*1000。