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Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地廣州市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/10/3 9:33:04
  • 訪問次數(shù)441
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廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司成立于2005年,位于國家*產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)廣州科學(xué)城。在光譜快速檢測領(lǐng)域深耕10年,熟悉各種光譜快速檢測方案的搭建,為化工、光電、材料、農(nóng)學(xué)、生物等不同領(lǐng)域的客戶提供了上百種檢測方案,2014年被認(rèn)定為。公司擁有強大的研發(fā)、銷售團(tuán)隊,擁有的創(chuàng)新能力,目前,公司累計獲得20多項并擁有自己的品牌商標(biāo),公司發(fā)展勢頭強勁,2015年榮獲廣州開發(fā)區(qū)“瞪羚企業(yè)”稱號,2016年成功認(rèn)定為廣州市研發(fā)機構(gòu),2016年順利通過ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證?! ?biāo)旗在“科技創(chuàng)新,真誠服務(wù)”的企業(yè)核心價值觀的下,不斷創(chuàng)新和發(fā)展,形成集算法開發(fā)、軟件開發(fā)、硬件開發(fā)、光路設(shè)計及電路設(shè)計為一體的研發(fā)體系,標(biāo)旗團(tuán)隊基于光纖光譜儀的應(yīng)用,開發(fā)了不同應(yīng)用領(lǐng)域的光譜快速檢測儀器,不斷沉淀與打造自主品牌——科思凱(Qspec)。目前,標(biāo)旗已擁有一系列具有核心競爭力的科思凱產(chǎn)品,包括:平面光學(xué)元件光譜分析儀、球面光學(xué)元件顯微檢測儀、透過率檢測儀、珠寶檢測儀、近紅外光譜檢測儀、全光譜層析掃描儀、非接觸光學(xué)測厚儀、微量紫外分光光度計、檢測儀、物質(zhì)分析儀和高功率鹵素冷光源等。標(biāo)旗科思凱系列產(chǎn)品儀器優(yōu)勢顯著,具有高效、迅速、準(zhǔn)確的特點,將“中國創(chuàng)造”的研發(fā)理念與攻關(guān)思路融入到每項產(chǎn)品的開發(fā)中,實現(xiàn)產(chǎn)品應(yīng)用與科技進(jìn)步、市場需求緊密結(jié)合,不斷突破傳統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)升級改造,實現(xiàn)理論研究與生產(chǎn)應(yīng)用的轉(zhuǎn)化,真正將創(chuàng)造力作為公司不斷向前發(fā)展的核心動力,將中國創(chuàng)造內(nèi)化于企業(yè)發(fā)展中?! ⊥瑫r,標(biāo)旗也是許多國際科技裝備企業(yè)在國內(nèi)的的代理商和經(jīng)銷商,包括:Ocean Optics光纖光譜儀(華南區(qū)總代理),PerkinElmer分析儀器、P&P成像光譜儀?!  ?biāo)旗秉承專業(yè)、真誠、貼心的服務(wù)宗旨,針對客戶的需求,量身定制光譜檢測應(yīng)用方案,幫助客戶解決科研和生產(chǎn)中的實際問題,全程提供售前、售中和售后服務(wù)。標(biāo)旗的成長離不開客戶的支持,目前,公司積累了豐富的技術(shù)和客戶資源,積極與高校合作,致力于產(chǎn)學(xué)研的成長模式;而且努力為同行業(yè)者搭建線上和線下交流平臺,向客戶學(xué)習(xí),更好的服務(wù)于客戶?! 】萍嫉陌l(fā)展日新月異,標(biāo)旗緊跟科技進(jìn)步與時代發(fā)展的步伐,在光譜快速檢測道路上不斷前行,臻于至善。
Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀
Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀 產(chǎn)品信息

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

全自動透光率/反射率分析儀

型號:Planum-3000

用途:用于各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜快速測量??蛇M(jìn)行多角度相對/

反射率、透過率測量,偏振光測量,膜性測量。

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀-適宜測量范圍:棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學(xué)性能。

 

                         操作軟件界面

 

平面光學(xué)元件光譜分析儀的技術(shù)參數(shù):

 

型號 Planum-3000(Ⅰ型) Planum-3000(Ⅲ型)
探測器 Sony線形CCD 陣列 Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測范圍 380-1000nm 360-1100nm
波長分辨率 1nm 1nm
信噪比(全信號) 250:1 1000:1
相對檢測誤差 ﹤1%400-800nm 0.2%400-800nm
重復(fù)定位精度 0.005°
透射測量角度 0-80°(小樣品0-50°)
反射測量角度 10-80°(可擴展到5°)
樣品尺寸 Φ5mm
單次測量時間 <1ms
S/P光測量 支持
其他 可自定義打印報告格式,開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫

關(guān)鍵詞:光譜分析儀
15168338725
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