日本理學(xué)智能X射線衍射儀SmartLab SE技術(shù)參數(shù)
1、X射線發(fā)生器功率為3KW
2、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀
3、角儀半徑300mm
4、測(cè)角儀配程序式可變狹縫
5、最小步徑0.0001度
6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶Mirror)
7、高速探測(cè)器D/teX Ultra250(0維,1維模式)
8、半導(dǎo)體陣列2維探測(cè)器HyPix400(0維、1維、2維模式)
7、載從控制測(cè)量到分析結(jié)果的SmartLab Studio II軟件包
8、視頻觀察系統(tǒng)
9、豐富的各種附件
日本理學(xué)智能X射線衍射儀SmartLab SE主要特點(diǎn)
1、SmartLab家族中的最新成員SmartLab SE。
2、使用SmartLab Studio II軟件,可以一鍵式得到從選擇條件、測(cè)量、到分析、結(jié)果報(bào)告的所有結(jié)果,不需要任何經(jīng)驗(yàn),就可以得到高質(zhì)量的分析結(jié)果。
3、智能X射線衍射儀SmartLabSE系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。
4、可以分析的材料包括:金屬材料、無機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料
5、可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品
主要的應(yīng)用有:
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
6.小角散射與納米材料粒徑分布
7. 微區(qū)樣品的分析
儀器介紹
智能X射線衍射儀SmartLab SE系列,是當(dāng)今高性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、智能的測(cè)量分析SmartLab Studio II軟件,一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。