shibuya反射率測(cè)量裝置MSP-100
通過使用特殊的半反射鏡,可以減少背面反射光,無需背面處理即可在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行精確測(cè)量。
(可測(cè)量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物鏡時(shí))還可以測(cè)量鏡片曲面和涂層不均勻度。(在樣品表面連接微小點(diǎn)(φ50μm))
即使是低反射率的樣品也可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,并且具有高重復(fù)性。(光學(xué)設(shè)計(jì)捕獲最大量的光,并
通過512元件線性PDA、內(nèi)置16位A/D轉(zhuǎn)換器和USB 2.0接口的高速計(jì)算實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量。)可以進(jìn)行色度測(cè)量和L*a*b*測(cè)量??梢允褂霉庾V比色法根據(jù)光譜反射率來測(cè)量物體。
數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。
單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測(cè)量。
具有在同一屏幕上顯示多個(gè)測(cè)量結(jié)果的功能。輕松比較測(cè)量結(jié)果。
shibuya反射率測(cè)量裝置MSP-100
規(guī)格
型號(hào) | MSP-100 |
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測(cè)量波長 | 380~1050nm |
測(cè)量重復(fù)性 | ±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm) |
樣品面 NA | NA 0.12(使用 10 倍物鏡時(shí)) |
樣品測(cè)量范圍 | φ50μm(使用10倍物鏡時(shí)) |
樣品曲率半徑 | -1R~-無窮大, +1R~無窮大 |
顯示分辨率 | 1納米 |
測(cè)量時(shí)間 | 幾秒到十幾秒(取決于采樣時(shí)間) |
外形尺寸 | (寬)230×(高)560×(深)460mm(僅機(jī)身) |
工作溫度限制 | 18~28℃ |
工作濕度 | 60%以下(無凝露) |