leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T4956─1985磁性方法；
JJG818-95《磁阻法測(cè)厚儀》；
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測(cè)厚儀。
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀功能與特點(diǎn)
采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性；
覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)；
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能；
具有欠壓指示功能；
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能；
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)頭類(lèi)型：F；
測(cè)量原理：磁感應(yīng)；
測(cè)量范圍：0-6000um；
低限分辨力：1μm(10um以下為0.1um)；
探頭連接方式：一體化；
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀示值誤差：
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1]；
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]；
測(cè)量條件：
***小曲率半徑(mm)：凸1.5|凹9；
基體***小面積的直徑(mm)：ф7；
***小臨界厚度(mm)：0.5；
溫濕度：0~40℃|20%RH～90%RH；
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
上下限設(shè)置：無(wú)；
關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)；
電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池；
外形尺寸：150×55.5×23mm；
重量：150g。
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
leeb253主機(jī)；
鐵基體；
標(biāo)準(zhǔn)片一套；
充電器；
使用說(shuō)明書(shū)；
合格證書(shū)；
包裝箱。
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀可選配
鐵基體；
標(biāo)準(zhǔn)片。
