天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷美國Thorlabs顯微鏡成像系統(tǒng)-LCC7201
美國Thorlabs顯微鏡成像系統(tǒng)-LCC7201
產(chǎn)品介紹:
平坦樣品中的延遲度和方位角(快速軸方向)的測(cè)量
在<15 s內(nèi)測(cè)量直徑20mm的視場(chǎng)
包括三個(gè)用于直徑0.5英寸,直徑1英寸和2英寸x 2英寸光學(xué)元件的樣品架
LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學(xué)術(shù)研究、醫(yī)療診斷、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證,可以測(cè)量晶體和液晶設(shè)備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角,非常適合檢測(cè)由應(yīng)力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件,其內(nèi)部沒有相對(duì)機(jī)械運(yùn)動(dòng),從而在運(yùn)行過程中非常穩(wěn)定,毫無振動(dòng)干擾。LCC7201工作的波長(zhǎng)為633 nm,提供直徑20 mm的視場(chǎng)。該系統(tǒng)所測(cè)相位延遲范圍為半波長(zhǎng)(max.316 nm),方位角范圍為±90°。此外,還可以定制波長(zhǎng)范圍從405 nm到810 nm的工作波長(zhǎng)。
參數(shù):
光源波長(zhǎng):633 nm
延遲測(cè)量范圍
標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:0至316 nm
低延遲范圍:0至100 nm
方位角測(cè)量范圍:±90°
延遲測(cè)量
精度標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:<±10 nm
低延遲范圍:<±1 nm
方位角測(cè)量精度
標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:<±3°
低延遲范圍:<±1°
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