原子力顯微鏡Dimension Icon

性能優(yōu)異、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品臺的原子力顯微鏡

Bruker Dimension®   Icon™  原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有更高水平的性能，多種不同功能和配件選擇，測試功能強大，操作簡便易行。

通過齊集Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗、廣大客戶反饋、結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設備需求， Dimension Icon進行了全面革新。全新的系統(tǒng)設計，實現(xiàn)了更高水準的低漂移和低噪音水平?，F(xiàn)在，用戶只需要幾分鐘就可獲取真實準確的掃描圖像。

優(yōu)異性能

·      獨特的傳感器設計，在閉環(huán)條件下，也能實現(xiàn)開環(huán)噪聲級別的大樣品高分辨率掃描成像。

·      進一步有效的降低了噪聲水平，接觸模式下可獲得原子級圖像，在輕敲模式下低于 30pm

·      熱漂移速率低千200pm/ 分鐘，獲得真正的無曲圖像 

快速、高效的檢測效率

·      XYZ閉環(huán)掃描器的新型設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也會不降低圖像質(zhì)量，并有更好的數(shù)據(jù)采集效率。

·      參數(shù)預設置中融入了多年的研發(fā)經(jīng)驗，新的NanoS cope® 軟件帶有默認的實驗模式 。

·      高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置

強大的多功能性

·      針尖和樣品之間具有開放式空間，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，能夠滿足不同研究工作的需求

·      在硬件和軟件技術(shù)方面的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX模式，可以測量納米尺度上材料性質(zhì)

·      用戶可通過使用程序腳本進行半自動測量和數(shù)據(jù)分析 

產(chǎn)品特色

高性能和高分辨率

Dimension®  Icon™是布魯克在針尖掃描技術(shù)上的一項革新技術(shù)，具有的分辨率，與Bruker的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測量速度與質(zhì)量。

系統(tǒng)配置溫度補償位置傳感器，實現(xiàn)了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺系統(tǒng)上，效果甚至超過大部分高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ 閉環(huán)掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質(zhì)量也不會被損壞，實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。

配置了Bruker的PeakForce®技術(shù)，Dimension Icon可實現(xiàn)智能獲取高分辨圖像。

接觸模式獲得的云母原子圖像，掃描速度0.6Hz

表現(xiàn)

      Dimension  Icon原子力顯微鏡已成為研究領(lǐng)域飽受歡迎的原子力顯微鏡型號之一， 使用Dimension  Icon發(fā)表文章的數(shù)目比其他大樣品臺AFM更多。Dimension Icon 在原有的操作平臺上引入新技術(shù)，展現(xiàn)出更高的性能和更快的測量速度。其軟件直觀的工作流程，使其操作過程比以往的AFM 技術(shù)更加簡便。

      現(xiàn)在，Dimension  Icon用戶無需像以前一樣調(diào)整幾小時的專業(yè)參數(shù)，即可立即獲得高質(zhì)量的測量結(jié)果。Dimension Icon 的每個方面，從開放式針尖樣品空間，到軟件參數(shù)預設置，都經(jīng)過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM 易用性。

Dimension Icon用戶操作界面

應用廣泛，表現(xiàn)出眾

      Dimension Icon可高速捕捉多通道數(shù)據(jù)，獲得更多高質(zhì)量的測量結(jié)果。結(jié)合Bruker多項AFM方面的技術(shù)和模式以及模式增強功能，Icon能夠提供的儀器性能和出眾的測量表現(xiàn)，能夠幫助您在納米研究、材料研究等領(lǐng)域里更上一層樓。

·      材料成像

ICON支持Bruker的PeakForce ONM™成像模式，研究者在獲得高分辨率形貌圖像的同時，還可以對樣品進行納米定量力學性能測試，同時獲得高分辨成像。此技術(shù)適用范圍很廣(模量從1MPa到50GPa，粘附力從10pN到10μN)，可以對不同類型的樣品進行表征。

·      電學表征

可以以更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍實現(xiàn)電學表征。把這些研究與其他技術(shù)結(jié)合起來，比如Dark Lift，可在掃描電容顯微鏡，掃描擴散電阻顯微鏡，扭轉(zhuǎn)共振隧道電流原子力顯微鏡中獲得真正的無假象數(shù)據(jù)

·      納米操縱

可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。Icon的 XYZ閉環(huán)掃描器可實現(xiàn)無壓電蠕變效應和超低噪音的精密探針定位，適用于任何納米操縱系統(tǒng)。

·      加熱和冷卻

使用AFM不同模式掃描的同時，可實現(xiàn)-35°C到 250°C的溫度控制和熱分析。使用熱探針可以在小于100nm的樣品局部加熱，達到400°C。 

靈活的AFM平臺

     Dimension Icon 展現(xiàn)出了的的性能，穩(wěn)定性和靈活性，幾乎可以實現(xiàn)以前只有在特制系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能，把AFM 的強大功能展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM成像和納米操作設定了新的標準。

     Dimension Icon 提供對性能沒有任何影響的靈活性平臺， 一個平臺，無限可能：

·      開放的平臺，能整合其他技術(shù)

·      開放的軟件和硬件，能輕松定制您的研究應用 - "如果它不存在， 就發(fā)明它"

·      電池、有機太陽能等研究的完整解決方案

左圖：手套箱中的AFM-拉曼聯(lián)用。                      右圖：光導AFM配件。

用AFM拓展您的應用

      憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術(shù)。

      基于核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套 AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克的全新的峰值力輕敲技術(shù)作為一種新的核心成像模式，已被應用到多種測量模式中，能同時提供形貌、電學和力學性能數(shù)據(jù)。

Dimension Icon數(shù)據(jù)示例：

左：輕敲 (Tapping) 模式中的syndiotactic polypropylene閉環(huán)成像。掃描范圍: 5μm。

右：Syndiotactic polypropylene結(jié)晶動力學研究: 本體聚合物從室溫(左)快速加熱至160℃的熔化狀態(tài)。128°C 時，促進了等溫結(jié)晶的平衡，并形成比原始層狀晶體更大的晶體。右圖顯示 101 分鐘的部分結(jié)晶圖像。

左：空氣中DNA的輕敲模式閉環(huán)圖像。掃描范圍: 2μm，掃描速率: 4.88Hz

中：HOPG上C36H74 烷的AFM圖像。清晰可見的片層結(jié)構(gòu)間距，與擴展C36H74 鏈構(gòu)象下的長度間距 (±4.5nm)一致

右：使用TR-TUNA模式對金圖案化硅基底上分散的單壁碳形貌和導電性同時成像。掃描范圍: 1μm

左：壓電薄膜材料上Dimension lcon loge刻蝕圖案的壓電響應力顯微鏡(PFM)振幅圖像。顯示Icon探針在刻蝕過程中的精確 XY 定位控制。掃描范圍: 20μm

中：HarmoniX 黏附力成像顯示毛細力相互作用

右：HOPG上C36H74 烷的閉環(huán)、高分辨率AFM 圖像。掃描范圍: 100nm