廠商:美國FEI
型號: FEI QUANTA 250 FEG
到貨日期: 2011年3月
主要參數(shù):
1)高真空 1.0nm 30kV(SE);3.0nm 1kV以下 ;2.5nm 30kV (BSE)
2)高真空減速模式 3.0nm1kV以下(BSE); 2.3nm 1kV以下(ICD)
3)低真空 1.4nm 30kV(SE);2.5nm 30kV(BSE)
4)環(huán)境真空(ESEM) 1.4nm 30kV (SE) 電子槍:高分辨肖特基場發(fā)射電子槍 加速電壓:220v-30kV X射線能譜儀的元素分析范圍:Be4~U92
主要用途:
金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機或有機固體材料的斷口、表面形貌的觀察;材料的相分布和夾雜物形態(tài)成分的鑒定;金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定;進行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析。