導軌式光束分析儀，測量光束質量因子M2，發(fā)散角
美國Dataray針對需要測量M2的客戶提供了相機成像和狹縫掃描系統(tǒng)，除了可以用來測量M2，還可以測量發(fā)散角、光束輪廓、束腰直徑等。
ISO 11146標準對于M2的測量要求在光束的瑞利長度范圍內至少取15組數(shù)據(jù)以上，然后取其合理數(shù)值的平均值得出較為準確的M2值；在大多數(shù)情況下，這就需要導軌式光束質量分析儀在傳播方向上多次移動取點。
為得到精確度較高的M2值，美國dataray推出的光束輪廓分析儀Beam R2狹縫系列和光斑分析儀WinCamD系列可以和M2DU系列導軌搭配使用，從而符合ISO 11146標準。
M2DU系列導軌特點：
- 分辨率小于1 μm
- 可以與dataray軟件兼容
- 符合RoHS和CE標準
- 有50，200，500，1000 mm的長度
為什么要關注激光的光束質量因子——M2，很多外行的人都會有這樣的一個問題。M2是激光或激光系統(tǒng)質量保證或者交付驗收的一個標準，是導致實際聚焦光斑直徑比預測計算的要大的原因，也是激光束通過光學系統(tǒng)傳播一個不變的屬性并且可以用來描述傳播路徑上任何點的光束。
實際的激光束不是的，由于激光腔、激光介質和附屬光學器件的限制意味著大多數(shù)的光束并不能達到標準的衍射極限、高斯剖面或純TEM00模式。復雜的光束需要經過多種模式的傳播，增加了M2值。即使是條件好的的實驗室里的HeNe激光器的M2值也約為1.05到1.2，而不是標準的TEM00光束的1.0。
導軌式M2測量儀——WinCamD系列：
- 靈敏的成像系統(tǒng)
- 可以測量大范圍的M2
- 可以適用于脈沖光和連續(xù)光
- 190-1600 nm的寬波段范圍，11.3 x 11.3 mm的傳感器尺寸，5.5 x 5.5 μm的像素尺寸
導軌式光束分析儀——Beam R2系列：
- 高分辨率（0.1 μm）單平面掃描系統(tǒng)
- 可以測量大范圍的M2
- 可以測量連續(xù)光和重復頻率大于（500 / Beam diameter in μm）KHz的脈沖光
- 波長范圍從190 nm到2500 nm
- 搭配導軌M2DU系列可以測量M2和發(fā)散角等
