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激光干涉膜厚測量儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱上海昊量光電設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時間2024/2/13 15:54:05
  • 訪問次數(shù)149
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上海昊量光電設(shè)備有限公司是目前國內(nèi)光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,也是近年來發(fā)展迅速的光電代理企業(yè)。除了擁有一批專業(yè)技術(shù)銷售工程師之外,還有擁有一支強大技術(shù)和支持隊伍。我們的技術(shù)和支持團隊可以為客戶提供完整的設(shè)備安裝,培訓,硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等工作。不但為客戶提供適合的產(chǎn)品,而且為客戶提供完善的服務(wù)是我們始終秉承的理念!

自2008年成立以來,昊量光電專注于光電領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)與產(chǎn)品經(jīng)銷,致力于引進國外很具*性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品,為國內(nèi)前沿的科研與工業(yè)領(lǐng)域提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前,昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系。其代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設(shè)備、精密光學元件等,所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究與國防等。

昊量光電堅持“專業(yè)源自專注,專注成就未來”的經(jīng)營理念。近年來,我們專注于前沿的細分市場,為量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、*激光制造等領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。

秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價值觀,昊量光電堅持以誠信為基石,憑借高效的運營機制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價值,實現(xiàn)各方共贏!

立足于光電產(chǎn)業(yè),昊量光電始終堅持價值創(chuàng)造與創(chuàng)新,贏得客戶與合作伙伴的認可,不斷拓展業(yè)務(wù)領(lǐng)域的新邊疆,立志打造*的代理服務(wù)品牌!

分析儀,光譜儀
Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設(shè)備
激光干涉膜厚測量儀 產(chǎn)品信息


Xper-IP激光干涉膜厚測量儀


Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度。


薄膜測厚儀,激光,膜厚測量儀,激光干涉薄膜測量系統(tǒng)



韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領(lǐng)域的高科技公司,旗下有多種產(chǎn)品,包括成像系統(tǒng),光學相干斷層掃描系統(tǒng),和激光干涉薄厚測量儀。


Xper-IP正是基于Nanobase的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度,產(chǎn)品具有以下特點:

 

精度 ±0.2 %

重復準度 ±0.003 %

超寬測量范圍 0.03 mm to 1.2 mm
人性化軟件,易于使用

性價比高

同時測量多層膜厚

結(jié)構(gòu)堅固,適用于實驗室和工業(yè)環(huán)境


參數(shù)


型號

Xper-ITP(激光干涉測厚)

Xper-(激光干涉測表面形貌)

測量范圍

100-1000微米,200-2000微米,(或者定制波長范圍,與分辨率成反比)

準確度

±0.2 %

重復性

單點:0.01% full range<>

平均:0.003% full range<>

速度

激光:標準30pps,(Max:100000pps

光源

激光:SLD(840nm)


應(yīng)用領(lǐng)域


半導體,太陽能,SiC Coat, Si Coat, Polished Si, Optical disk



平板顯示,Cell gap, Glass thickness, DLC, Highfunction film



光學薄膜,科研聚合物材料等,AR film, PET, Coating layer, Coating film, Evaporation film, Functionality film, Acrylic resin, Video head, etc.



測量原理



原理圖



示例



關(guān)鍵詞:測厚儀
15168338725
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