基于相機式原理,超短脈沖光束分析儀內(nèi)部芯片采用CMOS傳感器,因此可以實現(xiàn)連續(xù)激光以及脈沖激光的檢測,對于50mW至500mW的入射激光,可以實現(xiàn)直接檢測,無需增加額外的衰減元件。
Beam Profile Camera 是德國degger-tools生產(chǎn)用于測量光束輪廓和超短脈沖激光位置而研發(fā)的測量儀器,主要適用于三個波段,分別為:1030/1064nm,515/532nm,343/355nm。儀器的有效傳感面積為11.264mm × 11.264mm,可以檢測半徑為1mm到7.5mm的入射激光。
對于光束質(zhì)量參數(shù),M2和發(fā)散角,同樣可以實現(xiàn)測量,并且適用于第三方階段,用于手動測量整個輪廓信息,也可以選擇全自動測量。在使用儀器采集數(shù)據(jù)時,需要用戶搭配移動平臺,通過手動輸入測量位置信息,在移動平臺上采集15個激光截面信息,其中5個在瑞利長度內(nèi),5個在瑞利長度左側(cè),5個在瑞利長度右側(cè)。之后通過內(nèi)部程序合成處理。此時,可以將光束質(zhì)量參數(shù)的精度控制在±5 %。
相機式光斑分析儀規(guī)格參數(shù):
| Beam Profile Camera |
傳感器類型 | CMOS |
尺寸 | 30mm×30mm×30mm |
光譜范圍: | 1030/1064nm,515/532nm,343/355nm |
功率范圍 | 50mW — 500mW |
總分辨率 | 4.19 Mpixel |
芯片尺寸 | 11.264mm×11.264mm |
像素大小 | 5.5 μm |
精度-光束位置 | ± 1 μm |
精度-光束質(zhì)量-M2 | ± 5 % |
Degger-tools相機式光斑分析儀功能包括
- 45°和135°的橫截面圖
- X, Y, R的位置變化
- 直徑X, Y的變化
- M2測量
- 二維能量分布圖示
- 水平截面圖示
- 垂直剖面圖示
相機式光斑分析儀訂購型號及描述:
Beam Profile Camera