鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準試塊 GB/T11345-89
CSK-IA和CSK-IB試塊的主要用途
兩個試塊的主要區(qū)別在于：CSK—IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。
使用要點：
1）利用厚度25mm測定探傷儀的水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍；
2）利用厚度25mm和高度100mm調(diào)整縱波探測范圍；
3）利用R50和R100校定時基線或測定斜探頭的入射點；
4）利用高度85、91、100ram測定直探頭的分辨力；
5）利用中40、中44、中50ram曲面測定斜探頭的分辨力；
6）利用中50有機玻璃圓孔測定直探頭盲區(qū)和穿透能力；
7）利用中50曲面和巾1．5橫孔測定斜探頭的K值；
8）利用高度9lmm（縱波聲程9lmm相當(dāng)于橫波50mm）調(diào)節(jié)橫波1：1掃描速度，配合R100作零位校正；
9）、利用試塊直角棱邊測定斜探頭的聲軸偏斜角。
CSK—IA試塊
產(chǎn)品關(guān)鍵字：超聲波探傷試塊，CSK-IB標(biāo)準試塊,CSK-IB碳鋼試塊，CSK-IA標(biāo)準試塊，鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準試塊
