如果n1>n2,則介質(zhì)1相對(duì)于介質(zhì)2為光密介質(zhì),介質(zhì)2相對(duì)于介質(zhì)1為光疏介質(zhì)。對(duì)于X射線,一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì)。所以,如果介質(zhì)1是空氣,那么α1>α2,即折射線會(huì)偏向界面。如果α1足夠小,并使α2=0,此時(shí)的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當(dāng)α1<α臨界時(shí),界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質(zhì)1中,這就是全反射現(xiàn)象。
HORIZON 配備了12位樣品臺(tái)自動(dòng)測(cè)量,創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī),角度測(cè)量,采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測(cè)器。廣泛應(yīng)用在環(huán)境分析、制藥分析、法醫(yī)學(xué)、化學(xué)純度分析、油品分析、染料分析、半導(dǎo)體材料及核材料工業(yè)分析領(lǐng)域。
全反射X熒光光譜儀主要特點(diǎn)
1、單內(nèi)標(biāo)校正,有效簡(jiǎn)化了定量分析,無(wú)基體影響;
2、對(duì)于任何基體的樣品可單獨(dú)進(jìn)行校準(zhǔn)和定量分析;
3、多元素實(shí)時(shí)分析,可進(jìn)行痕量和超痕量分析;
4、不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響;
5、液體或固體樣品的微量分析,分析所需樣品量?。?br>
6、優(yōu)良的檢出限水平,元素分析范圍從鈉覆蓋到钚;
7、動(dòng)態(tài)線性范圍;
8、無(wú)需任何化學(xué)前處理,無(wú)記憶效應(yīng);
9、非破壞性分析,運(yùn)行成本低廉。