GCIB10S是一種高性能10千伏氣體團簇離子束，用于快 速、低損傷濺射和更高質量的表面分析。 GCIB 10S提供了大量有用的功能，包括實時集群大小測 量和內置樣本電流成像系統(tǒng)，以幫助您充分利用實驗。 GCIB 10S具有完整的泵送系統(tǒng)和單獨軟件，是一種栓接式 升級，將集束束濺射的力量引入現(xiàn)有的真空儀器，如 XPS、SEM和SIMS。

GCIB 10S可去除不定碳和其他表面污染，而不會損壞基材， 同時還可對有機物和聚合物等軟材料進行無損傷深度剖析。 下圖顯示了分別使用Ar1和Ar2000蝕刻原始PET表面前后的C 1s 峰值。數(shù)據(jù)清楚地顯示了單原子Ar1束（紅色）造成的化學損 傷，而光譜在暴露于Ar2000束（藍色）后幾乎保持不變。

• 10kV氬團簇離子源，可選擇Ar1至 >Ar3000的團簇。 
• 實時集群測量和調整。
• 采樣電流成像。 
• 光斑尺寸大，掃描范圍寬，可均勻去 除材料。
• 易于安裝在許多高真空儀器上。 
• 單獨軟件和基于web套接字的API，用 于與第三方軟件集成。