X射線光電子能譜儀 產(chǎn)品特點
易操作式多功能選配附件
全自動樣品傳送停放
高性能大面積和微區(qū) XPS 分析
快速精細深度剖析
為電池、半導體、有機器件以及其他各領域提供各方面解決方案
X射線光電子能譜儀 簡單易操作
PHI GENESIS 提供了一種全新的用戶體驗，儀器高性能、全自動化、簡單易操作。
操作界面可在同一個屏幕內(nèi)設置常規(guī)和高級的多功能測試參數(shù)，同時保留諸如進樣照片導航和 SXI 二次電子影像精細定位等功能。
X射線光電子能譜儀
PHI GENESIS 提供了 一個簡單、直觀且易于操作的用戶界面，對于操作人員非常友好，
操作人員執(zhí)行簡單的設置操作即可完成包括所有選配附件在內(nèi)的自動化分析。
X射線光電子能譜儀 多功能選配附件
原位的多功能自動化分析，涵蓋了從LEIPS 測試導帶到 HAXPES 芯能級激發(fā)的全范圍技術，相比于傳統(tǒng)的 XPS 而言，PHI GENESIS 體現(xiàn)了的性能價值。
X射線光電子能譜儀
各方面的優(yōu)良解決方案
高性能 XPS、UPS、LEIPS、REELS、AES、GCIB 及多種其他選配附件可以滿足所有表面分析需求。
X射線光電子能譜儀
X射線光電子能譜儀 多數(shù)量樣品大面積分析
- 多數(shù)量樣品大面積分析
- 把制備好樣品的樣品托放進進樣腔室后將自動傳送進分析腔室內(nèi)
- 可同時使用三個樣品托
- 80mm×80mm 的大樣品托可放置多數(shù)量樣品
- 可分析粉末、粗糙表面、絕緣體、形狀復雜等各種各樣的樣品
X射線光電子能譜儀
