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PIDcon bifacial 臺式雙面電池PID測試儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2024/4/2 17:31:52
  • 訪問次數(shù)95
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蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與世界分析儀器廠商的戰(zhàn)略合作,迅速成長為科學(xué)儀器行業(yè)受尊敬的*供應(yīng)商。

 束蘊(yùn)儀器擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活,為社會的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

 束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設(shè)備。如高校、科研院所、政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。

 束蘊(yùn)儀器倡導(dǎo)熱情主動、正直誠信、健康快樂的生活方式,并努力使這里的每一個(gè)員工做*秀的自己。

 束蘊(yùn)儀器,讓世界更清晰!



主營儀器設(shè)備:

-高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT -- 布魯克Bruker*分銷商

-X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、紅外光譜儀-布魯克Bruker*分銷商

-同位素質(zhì)譜儀--德國元素(Elementar)*代理商

-元素分析儀、TOC總有機(jī)碳分析儀--德國元素(Elementar)*代理商

-杜馬斯定氮分析儀--德國元素(Elementar)*代理商

-BPCL化學(xué)發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

-提供實(shí)驗(yàn)室分析儀器解決方案
 
顯微CT、X射線斷層掃描、Micro CT、TOC總有機(jī)碳分析儀、穩(wěn)定同位素、杜馬斯定氮儀、元素分析儀、布魯克代理商、德國元素代理、艾力蒙塔代理、上海顯微CT
用于單面及雙面電池,HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池、晶體硅太陽能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國FraunhoferCSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導(dǎo)退控制的測量解決方案
PIDcon bifacial 臺式雙面電池PID測試儀 產(chǎn)品信息

雙面電池問題:        

將電池的后側(cè)改為光蓋,被發(fā)現(xiàn)使雙面PERC電池和模塊對后側(cè)的新型PID敏感,即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機(jī)制(PID-c)。

解決方案:        

為了測試電池的這些類型的PID,我們開發(fā)了PIDcon雙面體。它是用溫度、照明和高電壓對完整的電池進(jìn)行壓力測試,它可以在兩個(gè)方向上進(jìn)行極化。通過測量照明下的IV曲線,可以確定PID的靈敏度。

應(yīng)用:        

太陽能電池片PID檢測

HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、雙面PERC、PERT、PERL和IBC太陽能電池的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。

欲了解更多信息,請?jiān)L問        


PIDcon bifacial的特點(diǎn):         

● 符合IEC62804-TS標(biāo)準(zhǔn)

● 易于使用的臺式設(shè)備

● 能夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊

● 無需氣候室

● 無需層壓電池

● 測量速度:小時(shí)至數(shù)天

● 可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、漏電流、濕度、溫度

● 太陽能電池可以在以后通過EL等進(jìn)行研究

● 基于IP的系統(tǒng)允許遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持從世界任何地方

 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件:        

● 電壓:upto1.5kV

● 溫度:85°C

● 測試時(shí)間:4hours(typical)

● 干燥條件下,不需要水

類型                          受壓                                                     恢復(fù)
PID-s正面                85°C,+1.5 kV                             85°C,-1.5 kV

PID-p背面             85°C,+1.5 kV,無照明 85°C,        暗儲存或光照

PID-c背面                   85°C,+1.5 kV, 照明                    不可恢復(fù)

層壓      150°C,20min

樣品尺寸   210×210mm

適用于 A   PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz

資質(zhì)認(rèn)證   根據(jù)ISO9001準(zhǔn)則制造,符合CE標(biāo)準(zhǔn)


參考文獻(xiàn): cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.


2010年*報(bào)道了晶硅太陽能組件在高壓影響下的故障。受影響的太陽能電池顯示分流電阻度降低。這種效應(yīng)被稱為電位誘導(dǎo)降解(PID)。

到目前為止,PID測試主要在模塊上進(jìn)行。模塊制造和氣候室測試需要大量的材料、設(shè)備和工作費(fèi)用。

PIDcon是與FraunhoferCSP合作開發(fā)的,目的是結(jié)合已建立的測試程序的優(yōu)點(diǎn):基于模塊的PID測試等現(xiàn)實(shí)的PID測試條件,以及較低的時(shí)間和成本支出。


關(guān)鍵詞:電池 太陽能電池片
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