全景成像模式：將所有傳感器進(jìn)行同步，輕松快速地分析涂層結(jié)合力和耐劃傷性能
全景模式是劃痕儀軟件最重要的特征。劃痕后，您可以選擇用所有自動(dòng)同步的傳感器：聲發(fā)射、深度、法向力和摩擦力傳感器來記錄全景。當(dāng)采用全景成像模式記錄時(shí)，可以隨時(shí)重新分析劃痕。
粘彈性材料表征使用前掃描和多次后掃描測(cè)量
在劃痕前、過程中或劃痕之后，位移傳感器 (Dz) 一直實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)著樣品的表面輪廓。因此，它可以在劃痕過程中和之后評(píng)估壓頭的壓入深度。隨時(shí)間進(jìn)行多次后掃描讓您可以隨時(shí)間測(cè)量聚合物的粘彈性恢復(fù)。
即使在曲面和粗糙表面也可進(jìn)行測(cè)量
由于采用了力傳感器控制技術(shù)，微米劃痕系統(tǒng)可檢測(cè)該偏差，并且通過主動(dòng)力反饋系統(tǒng)來校正該偏差。微米劃痕系統(tǒng)即使在粗糙表面和曲面上也可獲得可靠的測(cè)量。
多種劃痕測(cè)試功能具有多個(gè)測(cè)試模式
- 漸 的、恒定的或插入的載荷
- 多次磨損測(cè)試可使用單次或多次
- 可以快速輕松地更換夾具上的劃痕針尖
- 可使用不同種類的劃痕針尖：球形針尖、錐形針尖、維氏針尖、努氏針尖、刀具等
- 高質(zhì)量光學(xué)成像帶“跟蹤聚焦”
- 集成顯微鏡包括配置高質(zhì)量物鏡的轉(zhuǎn)塔和 USB 照相機(jī)。“跟蹤聚焦”功能可以將多個(gè)劃痕的 Z 樣品臺(tái)自動(dòng)聚焦到正確位置。
| 高質(zhì)量的光學(xué)成像： 劃痕測(cè)試儀的內(nèi)置顯微鏡系統(tǒng)由帶高質(zhì)量奧林巴斯的多物鏡轉(zhuǎn)塔以及 USB 照相機(jī)組成，而不是品質(zhì)較低的單倍物鏡顯微鏡。對(duì)于測(cè)試結(jié)果而言，輕松改變成像放大倍數(shù)顯得非常重要。 |  |
 | 模塊化設(shè)計(jì)： 安東帕劃痕測(cè)試儀可靈活配置以滿足您未來的需求。您可以選擇緊湊式或開放式平臺(tái)，在這些平臺(tái)中都安裝測(cè)試和成像模塊，他們?cè)谄脚_(tái)上并彼此“同步”。在兩種平臺(tái)上都含有標(biāo)準(zhǔn)模塊 - 光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)。 |
| 主動(dòng)力反饋： 系統(tǒng)的主動(dòng)力反饋確保了劃痕測(cè)試的可重現(xiàn)性，即使研究更加復(fù)雜的表面形狀如非平面、粗糙或曲面樣品時(shí)，也是如此。安東帕的測(cè)試儀是商業(yè)化的具有主動(dòng)力反饋的系統(tǒng)。 |  |
 | 實(shí)時(shí)劃痕深度測(cè)量適用于彈性恢復(fù)的研究： 在劃痕前后及劃痕過程中，用位移傳感器 Dz 測(cè)量樣品的表面輪廓。這樣，可以在劃痕過程中和結(jié)束之后來評(píng)估壓頭在樣品表面的劃痕深度，以更加可靠地了解耐劃傷性能和耐損傷性能。 |
| 同步全景成像模式： 劃痕測(cè)試儀的全景模式是該軟件最重要的特點(diǎn)。劃痕實(shí)驗(yàn)后，可以采用全景模式進(jìn)行記錄。當(dāng)采用全心Ｊ郊鍬際?，可疫\(yùn)媸敝匭露圓飭拷峁蟹治?、?td> |  |
技術(shù)指標(biāo)：
| 劃痕深度： | ||
| 精細(xì)量程 | 量程 | |
| 位移（μm） | 100 | 1000 |
| 深度分辨率(nm) | 0.05 | 0.5 |
| 法向載荷： | ||
| 精細(xì)量程 | 量程 | |
| 載荷（N） | 10 | 30 |
| 載荷分辨率（mN） | 0.01 | 0.03 |
| 摩擦力: | ||
| 精細(xì)量程 | 量程 | |
| 摩擦力（N） | 10 | 30 |
| 摩擦力分辨率（mN） | 0.01 | 0.03 |
