對于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他
們所需的數(shù)據(jù)。 為應(yīng)對不導(dǎo)電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設(shè)計和真
空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。 為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另
外、Q45加上了環(huán)境掃描（ESEM）模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。
Q45 材料科學(xué)應(yīng)用
為應(yīng)對研究寬范圍的材料及結(jié)構(gòu)及成分表征的需求，F(xiàn)EI Q45 SEM為應(yīng)對當今的寬范圍研究需求的挑戰(zhàn)提供了靈活性和多功能。觀察任何樣品和獲得所有數(shù)據(jù)：表面和成分像可以和附件結(jié)合起來確定材料的性能和元素組成
優(yōu)點
在所有的操作模式下可以用SE或BSE圖像表征導(dǎo)電或不導(dǎo)電樣品。
樣品制備工作最少化；低真空和環(huán)境掃描模式實現(xiàn)了無荷電成像及不導(dǎo)電樣品和/或含水樣品的分析
增加了除導(dǎo)電樣品之外的非導(dǎo)電樣品的分析能力，利用多級穿過透鏡的抽氣系統(tǒng)在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。
利用穩(wěn)定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。
采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析。
簡單易用，即使是新手利用直觀的軟件可實現(xiàn)高效操作。
