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與拉曼光譜聯(lián)用微型探針臺(tái) 鄭科探廠家

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公司名稱鄭州科探儀器設(shè)備有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/4/27 10:12:08
訪問(wèn)次數(shù)87

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

鄭州科探儀器設(shè)備有限公司是集開(kāi)發(fā)、制造、經(jīng)營(yíng)為一體的材料設(shè)備創(chuàng)新型企業(yè)，如今公司的產(chǎn)品已經(jīng)遍布國(guó)內(nèi)大多數(shù)實(shí)驗(yàn)室，科探儀器已經(jīng)成為老師同學(xué)和信任的品牌。公司以科技創(chuàng)新為主，服務(wù)社會(huì)為宗旨，積極設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)新型材料制備設(shè)備，奉獻(xiàn)于教育和科學(xué)，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期的研發(fā)和不斷地技術(shù)積累，擁有熱工，制造，控制相關(guān)技術(shù)項(xiàng)為化學(xué)，物理，材料，電子，高分子工程，新材料制備和研發(fā)領(lǐng)域的科學(xué)研究提供了精良設(shè)備。公司通過(guò)和院校老師同學(xué)強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合，形成了有效的信息，技術(shù)交流平臺(tái)，為科探儀器了解市場(chǎng)需求提供了強(qiáng)有力的支持！

目前公司已研發(fā)生產(chǎn)產(chǎn)品十多個(gè)系列幾十款產(chǎn)品，產(chǎn)品囊括實(shí)驗(yàn)電爐 CVD供氣系統(tǒng) 等離子清洗機(jī) 小型離子濺射儀小型蒸鍍儀石英管真空封口真空探針臺(tái) 半導(dǎo)體等。主要適用于科研院校及工礦企業(yè)在新材料、新能源等領(lǐng)域物理特性及化學(xué)特性的研究，廣銷于各大院校，及材料研究所。

公司與國(guó)內(nèi)高校，科研院所有多層次的合作關(guān)系，建有開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室，相關(guān)領(lǐng)域的教授、工程師、博士參與公司產(chǎn)品的研究和開(kāi)發(fā)。我們秉承公司的發(fā)展理念，依靠嚴(yán)謹(jǐn)?shù)募夹g(shù)研發(fā)能力，科學(xué)合理的生產(chǎn)工藝，精益求精的制造要求，全心全意做好產(chǎn)品質(zhì)量和服務(wù)工作，科探儀器時(shí)刻懷著一顆真誠(chéng)的心期待與您的合作。

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小型濺射儀，小型蒸鍍儀，真空試管封口機(jī)，真空探針臺(tái)，等離子清洗機(jī)，真空加熱腔

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與拉曼光譜聯(lián)用微型探針臺(tái) 鄭科探廠家尺寸小、重量輕，具備變溫測(cè)試及真空測(cè)試功能，適用于科研工作，也適用于與其他儀器聯(lián)用，是一款非常有特點(diǎn)的微探針系統(tǒng)。

與拉曼光譜聯(lián)用微型探針臺(tái) 鄭科探廠家產(chǎn)品信息

與拉曼光譜聯(lián)用微型探針臺(tái) 鄭科探廠家 尺寸小、重量輕，具備變溫測(cè)試及真空測(cè)試功能，適用于科研工作，也適用于與其他儀器聯(lián)用，是一款非常有特點(diǎn)的微探針系統(tǒng)。

與拉曼光譜聯(lián)用微型探針臺(tái) 鄭科探廠家 儀器特點(diǎn)：

工作距離短、尺寸小，帶有視窗，可以與各種顯微鏡聯(lián)用；

配備真空腔，有優(yōu)異的氣密性；

配備MFC工藝氣路，可以通入多種微量氣氛；

標(biāo)準(zhǔn)同軸或三軸接口，與各種主流電學(xué)測(cè)試儀表兼容；

多種變溫手段，高精度溫度控制：

-40℃ ~ 200℃ (帕爾帖變溫)；

-40℃ ~ 170℃ (帕爾帖變溫)；

室溫 ~ 450℃ (陶瓷加熱)；

室溫 ~ 750℃ (陶瓷加熱)；

77K ~ 300K (液氮變溫)；

精巧型真空腔體測(cè)試腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。

測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為φ30，臺(tái)面可升溫到400℃。臺(tái)面四周裝有微型3軸可移動(dòng)鎢鋼探針，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測(cè)試。該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口其真空度用機(jī)械泵可達(dá)＜5Pa分子泵可達(dá)＜-3Pa。真空信號(hào)連接處使用高級(jí)真空電極信號(hào)接頭，保證氣密性及抗干擾性能。

使用時(shí)將需將待檢測(cè)的器件方在加熱臺(tái)面，探針處由3