由于多種原因,SWIR成像儀(短波長紅外)是監(jiān)視電光成像儀的重要組成部分。首先,InGaAs技術(shù)的進(jìn)步使設(shè)計成本相對較低的SWIR成像器成為可能。其次,InGaAs成像儀非常靈敏,即使在漆黑的夜晚也可以生成觀察到的風(fēng)景圖像。第三,與在可見/近紅外波段工作的電視攝像機(jī)相比,SWIR成像儀更不容易受到惡劣的大氣條件的影響。第四,即使使用比用于熱像儀設(shè)計的光學(xué)器件小得多的光學(xué)元件構(gòu)建,SWIR成像器也可以生成高分辨率圖像。 SWIR成像器通常使用觀察到的目標(biāo)反射的輻射來創(chuàng)建這些目標(biāo)的圖像,類似于電視攝像機(jī)。 SWIR成像儀還可以使用觀察到的目標(biāo)發(fā)出的熱輻射來創(chuàng)建這些目標(biāo)的圖像,例如熱成像儀。由于具有這些功能,可以使用測試電視攝像機(jī)的方法或測試熱像儀的方法來測試SWIR。 InGaAs FPA的參數(shù)也可用于表征SWIR成像儀。
Inframet建議通過以下三種方式來表征SWIR成像儀:a)測量電視攝像機(jī)的典型參數(shù)(分辨率,最小可分辨對比度,MTF,失真,F(xiàn)OV,靈敏度,SNR,等效噪聲輸入,固定模式噪聲,不均勻性),b)測量熱成像儀的典型參數(shù)(MRT,MDT,MTF,NETD,F(xiàn)PN,不均勻性,畸變,F(xiàn)OV),c)測量InGaAs FPA模塊的參數(shù)(平均檢測度,等效噪聲輻照度,動態(tài)范圍)。
ST測試系統(tǒng)通常是可變目標(biāo)測量系統(tǒng),它使用一系列不同的目標(biāo)將其圖像投影到測試的SWIR成像器的方向。成像器會生成投影圖像的變形副本。成像儀生成的圖像的質(zhì)量由觀察員或軟件進(jìn)行評估,并測量SWIR成像儀的重要特性。ST測試系統(tǒng)由反射式離軸準(zhǔn)直儀,寬帶光源,中溫黑體,電動轉(zhuǎn)輪,一組目標(biāo),帶通濾波器,PC,圖像采集卡和測試軟件組成。
準(zhǔn)直器
準(zhǔn)直器類型:反射型,離軸
通光孔徑:從100 mm到200 mm
焦距:取決于型號
光譜范圍:至少0.4-15?m
空間分辨率:不小于160 lp / mrad
涂層:鍍鋁–準(zhǔn)直鏡,平金鏡
視場:取決于型號
光源
孔徑:40 mm
光源類型
雙重:1)多色鹵素型
2)單色LED
鹵素光譜帶:400-2200 nm
鹵素色溫:在450-1700nm波段約2856K
鹵素動態(tài):0.02 cd / m2-3000 cd / m2
鹵素調(diào)節(jié)方法:光機(jī)械,連續(xù)
LED波長:1060nm
LED光源動態(tài):10000:1