DDZ抗倒伏測定儀的詳細資料：
植物抗倒伏測定儀
▲三種不同測頭：可進行莖桿彎折性能測量、莖桿抗壓強度測量、莖桿組織結(jié)構(gòu)（穿刺）強度測量。
▲儀器配有功能強大的同步測試軟件，連接電腦同步顯示測試力曲線圖及測試的過程，并可保存、打印做各種分析。
▲三種單位N、kgf、lbf自動互換。
▲峰值保持功能，峰值自動解除功能。
儀器介紹：
近年來，由于氮肥的大量使用以及增加種植密度，提高了農(nóng)作物單產(chǎn)，但是倒伏問題卻越來越嚴(yán)重，小麥、水稻大面積倒伏直接影響產(chǎn)量和品質(zhì)，所以測量植物的莖桿強度和抗倒伏能力具有重要的意義。植物抗倒伏測定儀通過配置的探針、拉鉤、壓板等附件來測量農(nóng)作物的莖桿強度及抗倒伏能力。
技術(shù)參數(shù)：
量程：0-50N、0-500N（其他量程可定制）
分辨率：0.01N；0.1N.
精度：±0.5%；
電源：充電電源：220V/AC；
電池連續(xù)工作時間：6～8小時；
穩(wěn)定性：溫漂：0.2uV/℃（0-60℃）；
零漂：≤ 0.1%/8小時/FS；
標(biāo)定范圍：滿量程標(biāo)定；
環(huán)境溫度：0～+60℃；
環(huán)境濕度：≤ 80%；
允許過載：150%；
關(guān)機時間設(shè)置：10-90分鐘；
電池容量顯示：分3格、2格、1格
型號功能區(qū)別：
儀器名稱 | 型 號 | 主要技術(shù)參數(shù) |
植物抗倒伏測量儀 | DDZ-1 | 大負荷：500N，分辨率：0.1N |
DDZ-2 | 大負荷： 50N，分辨率：0.01N |
倒伏是作物高產(chǎn)優(yōu)質(zhì)的限制因素之一，倒伏的嚴(yán)重度及對產(chǎn)量和品質(zhì)造成的損失與作物生長環(huán)境和倒伏的發(fā)生時期有關(guān)，國內(nèi)外學(xué)者對作物的抗倒伏性進行了廣泛深入的研究，提出株高、莖粗和根冠比與抗倒性呈顯著相關(guān)，降低株高是提高抗倒伏性的非常有效措施，基部莖粗、單位節(jié)間干重和壁厚度與抗倒伏性呈顯著負相關(guān)。作物倒伏后造成田間郁閉、莖葉相互掩映、通風(fēng)透光差、病害發(fā)生嚴(yán)重，影響了植物光合作用的正常進行及加重病蟲害的發(fā)生，使光合物質(zhì)產(chǎn)量下降，使籽粒產(chǎn)量下降，同時使莖桿的運輸功能亦受到抑制，且部分營養(yǎng)物質(zhì)被用于莖桿的彎曲增長。造成作物產(chǎn)量及品質(zhì)下降。測量作物莖桿強度，提高作物抗倒伏能力，對作物產(chǎn)量和機械化收割具有重要的意義。
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