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RF射頻芯片的HAST測試 試驗(yàn)箱

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  • 公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地成都市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/11/25 10:10:40
  • 訪問次數(shù)106
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成都中冷低溫科技有限公司總部位于中國成都,是一家專注于泛半導(dǎo)體溫度環(huán)境解決方案的創(chuàng)新型高科技公司,

專精特新企業(yè)、科技型企業(yè)、歐盟CE認(rèn)證企業(yè)、ISO9001國際質(zhì)量管理體系認(rèn)證企業(yè)、知識產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)證企業(yè)。

中冷低溫主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀(ThermoTST熱流儀)、接觸式冷熱沖擊機(jī)(ATC/TCU)、高低溫卡盤(ThermoChuck)、高低溫測試臺、高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)(PCT)、

非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)(HAST) 、環(huán)境應(yīng)力篩選系統(tǒng)、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、氣體制冷機(jī)、氣體溫控器、超低溫制冷機(jī)。

為晶圓、芯片、5G通訊、光模塊、集成電路、航空航天、天文探測、電池包、氫能源等領(lǐng)域的可靠性測試提供整套溫度環(huán)境解決方案和測試服務(wù)。

中冷低溫設(shè)備已出口歐盟、泰國、越南、新加坡、馬來西亞等。

在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、重慶、西安設(shè)有辦事處。

 

 

 

高低溫沖擊氣流儀,接觸式冷熱沖擊機(jī),高低溫卡盤,高低溫測試臺,高壓加速老化試驗(yàn)機(jī),高低溫試驗(yàn)箱,HAST,氣體制冷機(jī)
產(chǎn)地 進(jìn)口
RF射頻芯片的HAST測試 試驗(yàn)箱,HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗(yàn)設(shè)備其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間。用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信
RF射頻芯片的HAST測試 試驗(yàn)箱 產(chǎn)品信息

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RF射頻芯片的HAST測試 試驗(yàn)箱

(Highly Accelerated Stress Test,高加速應(yīng)力測試)是一種用于評估芯片在不同環(huán)境條件下性能和可靠性的測試方法。以下是關(guān)于RF射頻芯片HAST測試的詳細(xì)解釋:

一、測試目的

HAST測試主要用于模擬RF射頻芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的高溫、高濕等惡劣環(huán)境,以加速芯片的老化過程,從而更早地暴露出潛在的問題。通過測試,可以評估芯片在高溫高濕環(huán)境下的穩(wěn)定性、檢測可能由高溫高濕引起的問題,并驗(yàn)證芯片的可靠性。

二、測試原理

HAST測試通過在高溫高濕環(huán)境下對RF射頻芯片施加應(yīng)力,模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能面臨的惡劣條件。高溫高濕環(huán)境會引發(fā)一系列物理和化學(xué)反應(yīng),如熱膨脹、熱應(yīng)力和腐蝕等,這些因素對芯片的性能和可靠性產(chǎn)生不利影響。在HAST測試中,芯片被暴露在高溫高濕的環(huán)境中,通過加速老化過程,從而更早地暴露出潛在的問題。


HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗(yàn)設(shè)備

其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間。

用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗(yàn)等行業(yè)。


RF射頻芯片的HAST測試 試驗(yàn)箱

IGBT-HAST測試的主要目的是:評估IGBT模塊在高溫高濕環(huán)境下的性能和可靠性。預(yù)測IGBT模塊在實(shí)際使用中的長期可靠性。識別IGBT模塊設(shè)計(jì)或制造過程中可能存在的潛在問題。

IGBT-HAST測試的原理:HAST測試通過模擬高溫高濕環(huán)境,對IGBT模塊施加加速的溫度和濕度應(yīng)力,以加速其內(nèi)部可能發(fā)生的物理和化學(xué)變化。這種測試方法能夠在短時間內(nèi)模擬長時間使用過程中的老化過程,從而評估IGBT模塊的可靠性。

IGBT-HAST測試的步驟

1. 確定測試條件:根據(jù)IGBT模塊的特性和應(yīng)用環(huán)境,確定相應(yīng)的溫度、濕度等測試條件。例如,可能在121℃的高溫環(huán)境中,將相對濕度控制在85%以上。

2. 樣品準(zhǔn)備:選取具有代表性的IGBT模塊樣品,確保樣品的質(zhì)量和可靠性。

3. 安裝與布置:將IGBT模塊樣品安裝在HAST測試設(shè)備中,確保設(shè)備的穩(wěn)定性和安全性。

4. 施加應(yīng)力:按照確定的測試條件,對IGBT模塊施加相應(yīng)的溫度、濕度等應(yīng)力。

5. 監(jiān)控與記錄:對IGBT模塊在測試過程中的性能表現(xiàn)進(jìn)行實(shí)時監(jiān)控和記錄,包括電氣性能、機(jī)械性能等指標(biāo)。

6. 結(jié)果評估:根據(jù)測試數(shù)據(jù),評估IGBT模塊的可靠性和穩(wěn)定性,確定是否存在潛在問題。

7. 優(yōu)化與改進(jìn):根據(jù)測試結(jié)果,對IGBT模塊的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn),提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。


產(chǎn)品特點(diǎn)

1.HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)采用較新優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方,做工精細(xì)

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)

3.大容量水箱,試驗(yàn)時間長,全自動補(bǔ)水,試驗(yàn)不中斷

4.與試樣數(shù)量相吻合的試樣信號施加端了

5.采用觸摸屏,具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能

6.采用高效真空泵,使箱內(nèi)達(dá)到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)

7.一體成型硅膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長

8.多項(xiàng)安全保護(hù)措施,故障報(bào)警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

9.可根據(jù)客戶不同需求定制專用HAST試驗(yàn)設(shè)備(如: HAST內(nèi)箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要)


滿足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 規(guī)范要求

3種控制模式包含:不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。

高壓加速老化試驗(yàn)箱采用優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方、做工精細(xì),對應(yīng) IEC60068-2-66 條件

具有直接測量箱內(nèi)溫濕度的干、濕球溫度傳感器;具有緩降壓、排氣、排水功能,控制避免試驗(yàn)結(jié)束后壓力溫度的急變,保證試驗(yàn)結(jié)果的正確。




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