四探針法粉末電導率測試儀四探針法粉末電導率測試儀
電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.
概述:采用四端測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,實驗室;是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的工具??膳渲貌煌瑴y量裝置測試不同類型材料之電阻率。液晶顯示,溫度補償功能,自動量程,自動測量電阻,電阻率,電導率數(shù)據(jù)。恒流源輸出;選配:PC軟件過程數(shù)據(jù)處理和標準電阻校準儀器,薄膜按鍵操作簡單,中文或英文兩種語言界面選擇,電位差計和電流計或數(shù)字電壓表,量程為1mVˉ100mV,分辨率為0.1%,直流輸入阻抗不小250μm的半球形或半徑為50 μm~125 μm的平的圓截面。探針(帶有彈簧及外引線)之間或探針系統(tǒng)其他部分之間的絕緣電照至少為10°Ω.探針排列和間距,四探針應以等距離直線排列,探針閥距及針突狀況應符合GB/T 552 中的規(guī)定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=與(R; +R,)計算試樣平均直徑D與平均操針間距S之比,由表3中查出修正因子F,也可以見GB/T11073中規(guī)定的幾何修正因子。 9.4計算幾何修正因子F,見式(4)。對于薄層厚度小于3μm的試樣,選用針尖半徑為100μm250μm的半球形探針或針尖率徑為50μm~125 pm平頭探針,針尖與試樣間壓力為0.3 Nˉ0.8Ni對于薄層厚度不小于3μ的試樣,選用針尖半徑為35μm100 pm 半球形操針,針尖與試樣間壓力不大于 0.3 N.Rr=V; R,/V=V/I,…… …