日本pulstec透明體厚度/波紋度測(cè)量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測(cè)量設(shè)備。
1.最多可檢測(cè)8層厚度。
2.測(cè)量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測(cè)量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測(cè)量。
4.即使對(duì)于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測(cè)量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測(cè)量
3.測(cè)量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測(cè)量
日本pulstec透明體厚度/波紋度測(cè)量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測(cè)量設(shè)備。
1.最多可檢測(cè)8層厚度。
2.測(cè)量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測(cè)量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測(cè)量。
4.即使對(duì)于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測(cè)量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測(cè)量
3.測(cè)量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測(cè)量
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測(cè)量設(shè)備。
1.最多可檢測(cè)8層厚度。
2.測(cè)量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測(cè)量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測(cè)量。
4.即使對(duì)于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測(cè)量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測(cè)量
3.測(cè)量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測(cè)量
